|
|
Hesler, J. L., Crowe, T. W., Bradley, R. F., Pan, S. K., & Chattopadhyay, G. (1995). The design, construction and evaluation of a 585 GHz planar Schottky mixer. In Proc. 6th Int. Symp. Space Terahertz Technol. (pp. 34–43). Pasadena, Ca.
|
|
|
|
Parvitte, B., Thomas, X., & Courtois, D. (1995). Wide band (2.5 GHz) infrared heterodyne spectrometer. Int. J. Infrared and Millimeter Waves, 16(9), 1533–1540.
|
|
|
|
Ekstrom H., Karasik B. S., Kollberg E.L., & Yngvesson K.S. (1995). Conversion Gain and Noise of Niobium Superconducting Hot-Electron-Mixers. IEEE Trans. Microw. Theory Techn., 43, 938–947.
Abstract: A study has been done of microwave mixing at 20 GHz using the nonlinear (power dependent) resistance of thin niobium strips in the resistive state. Our experiments give evidence that electron-heating is the main cause of the nonlinear phenomenon. Also a detailed phenomenological theory for the determination of conversion properties is presented. This theory is capable of predicting the frequency-conversion loss rather accurately for arbitrary bias by examining the I-V-characteristic. Knowing the electron temperature relaxation time, and using parameters derived from the I-V-characteristic also allows us to predict the -3-dB IF bandwidth. Experimental results are in excellent agreement with the theoretical predictions. The require ments on the mode of operation and on the film parameters for minimizing the conversion loss (and even achieving conversion gain) are discussed in some detail. Our measurements demon-strate an intrinsic conversion loss as low as 1 dB. The maximum IF frequency defined for -3-dB drop in conversion gain, is about 80 MHz. Noise measurements indicate a device output noise temperature of about 50 K and SSB mixer noise temperature below 250 K. This type of mixer is considered very promising for use in low-noise heterodyne receivers at THz frequencies.
|
|
|
|
Гольцман, Г. Н., Веревкин, А. А., Гершензон, Е. М., Птицина, Н. Г., Смирнов, К. В., & Чулкова, Г. М. (1995). Исследования процессов неупругой релаксации и примесная спектроскопия-релаксометрия в двумерном электронном газе в полупроводниковых структурах с квантовыми ямами.
Abstract: В гетероструктурах GaAs/AlGaAs впервые прямым методом измерена температурная зависимость вpемени энеpгетической pелаксации двумерного электронного газа te(T) в широком диапазоне температур Т=1,5 – 50 К в квазиравновесных условиях. Для измерений использовался высокочувствительный спектрометр миллиметрового диапазона волн с высоким временным разрешением, который позволял измерять релаксационные времена до 150 пс с погрешностью не более 20%. Верхний предел температуры определялся временным разрешением спектрометра. Исследования проводились на высококачественных образцах с поверхностной концентрацией носителей ns = 4,2 1011 см-2 и подвижностью m = 7 105 см2В-1с-1 (при Т = 4,2К). В квазиравновесных условиях из температурной зависимости tе определен предел подвижности при низких температурах (T<4.2 K), связанный с рассеянием на пьезоакустическом потенциале, получено время неупругой релаксации, связанное с рассеянием на деформационном потенциале (15 K25 K), получено характерное время испускания оптического фонона (tLO>4,5пс), которое существенно превышает время сронтанного излучения оптического фонона (примерно в 30 раз), что связано с большой ролью процессов перепоглащения фононов электронами.При низких температурах проведены измерения tе в условиях сильного разогрева. Полученные значения tе и зависимость tе от температуры электронов Те совпадают с tе(Т) в квазиравновесных условиях при Т=Те. Из полученных значений tе(Те) построена зависимость мощности энергетических потерь от Те, которая хорошо согласуется с литературными данными.Начаты измерения в магнитном поле, которые показывают переспективность использованного нами метода измерений как в области слабых магнитных полей при факторе заполнения >10, так и в области сильных магнитных полей при факторе заполнения >1-2.
|
|
