| 
Citations
 | 
   web
Ожегов, Р. В. (2011). Флуктуационная чувствительность и стабильность приемников с СИС и HEB смесителями для терагерцового тепловидения. Радиофизика, , 135.
toggle visibility
Elant'ev, A. I., & Karasik, B. S. (1989). Effect of high-frequency current on Nb superconductive film in resistive state. Sov. J. Low Temp. Phys., 15(7), 379–383.
toggle visibility
Казаков, А. Ю., Кардакова, А. И., Селиверстов, С. В., Горшков, К. Н., Дивочий, А. В., Финкель, М. И., et al. (2012). Возможность применения сверхпроводниковых материалов в качестве отражающего покрытия холодного зеркала телескопа субмиллиметрового диапазона. Совр. проб. науки и обр., (3), 1–5.
toggle visibility
Sidorova, M. V., Divochiy, A., Vakhtomin, Y. B., & Smirnov, K. V. (2015). Ultrafast superconducting single-photon detector with reduced-size active area coupled to a tapered lensed single-mode fiber. In International Society for Optics and Photonics (Ed.), Proc. SPIE (Vol. 9504, 950408 (1 to 9)).
toggle visibility
Лесс, Ю. А., & Кирсанов, Ю. А. (2015). Былое и думы. Посвящение эпохе Н. Н. Малова, Е. М. Гершензона, В. С. Эткина.
toggle visibility
Семенов, А. В. (2010). Проскальзывание фазы, поглощение электромагнитного излучения и формирование отклика в детекторах на основе узких полосок сверхпроводников. Ph.D. thesis, , .
toggle visibility
Zolotov, P., Divochiy, A., Korneeva, Y., Vakhtomin, Y., Seleznev, V., & Smirnov, K. (2015). Capability investigation of superconducting single-photon detectors, optimized for 800–1200 nm spectrum range.
toggle visibility
Elantev, A. I., & Karasik, B. S. (1994). Noise temperature of a superconducting hot-electron mixer. In Proc. 5th Int. Symp. Space Terahertz Technol. (225).
toggle visibility
Gershenzon, E. M., Orlova, S. L., Orlov, L. A., Ptitsina, N. G., & Rabinovich, R. I. (1976). Intervalley cyclotron-impurity resonance of electrons in n-Ge. JETP Lett., 24(3), 125–128.
toggle visibility
Гершензон, Е. М., Семенов, И. Т., & Фогельсон, М. С. (1985). Спин-решеточная релаксация доноров фосфора в кремнии при одноосной деформации образца. Физика и техника полупроводников, 19(9), 1696–1698.
toggle visibility