Home
<<
1
>>
List View
|
Citations
|
Details
Банная, В. Ф., Веселова, Л. И., & Гершензон, Е. М. (1983). Об одном способе определения концентрации глубоких примесей в германии.
Физика и техника полупроводников
,
17
(10), 1896–1898.
Keywords:
Ge, deep impurities
https://db.rplab.ru/refbase/show.php?record=1762