| Author |
Title |
Year |
Publication |
Volume |
Pages |
| Мошкова, М. А.; Дивочий, А. В.; Морозов, П. В.; Золотов, Ф. И.; Вахтомин, Ю. Б.; Смирнов, К. В. |
Высокоэффективные NBN однофотонные детекторы с разрешением числа фотонов |
2018 |
Сборн. науч. труд. VII международн. конф. по фотонике и информац. опт. |
|
400-401 |
| Манова, Н.Н.; Корнеева, Ю. П.; Корнеев, А. А., Гольцман, Г. Н. |
Cверхпроводящий однофотонный детектор, интегрированный с оптическим резонатором |
2010 |
Науч. сессия НИЯУ МИФИ |
|
92-93 |
| Kitaygorsky, J.; Komissarov, I.; Jukna, A.; Pan, D.; Minaeva, O.; Kaurova, N.; Divochiy, A.; Korneev, A.; Tarkhov, M.; Voronov, B.; Milostnaya, I.; Gol'tsman, G.; Sobolewski, R.R. |
Dark counts in nanostructured nbn superconducting single-photon detectors and bridges |
2007 |
IEEE Trans. Appl. Supercond. |
17 |
275-278 |
| Korneev, A.; Korneeva, Y.; Florya, I.; Voronov, B.; Goltsman, G. |
NbN nanowire superconducting single-photon detector for mid-infrared |
2012 |
Phys. Procedia |
36 |
72-76 |
| Milostnaya, I.; Korneev, A.; Tarkhov, M.; Divochiy, A.; Minaeva, O.; Seleznev, V.; Kaurova, N.; Voronov, B.; Okunev, O.; Chulkova, G.; Smirnov, K.; Gol’tsman, G. |
Superconducting single photon nanowire detectors development for IR and THz applications |
2008 |
J. Low Temp. Phys. |
151 |
591-596 |
| Minaeva, O.; Fraine, A.; Korneev, A.; Divochiy, A.; Goltsman, G.; Sergienko, A. |
High resolution optical time-domain reflectometry using superconducting single-photon detectors |
2012 |
Frontiers in Opt. 2012/Laser Sci. XXVIII |
|
Fw3a.39 |
| Takemoto, K.; Nambu, Y.; Miyazawa, T.; Sakuma, Y.; Yamamoto, T.; Yorozu, S.; Arakawa, Y. |
Quantum key distribution over 120 km using ultrahigh purity single-photon source and superconducting single-photon detectors |
2015 |
Sci. Rep. |
5 |
14383 |
| McCarthy, Aongus; Krichel, Nils J.; Gemmell, Nathan R.; Ren, Ximing; Tanner, Michael G.; Dorenbos, Sander N.; Zwiller, Val; Hadfield, Robert H.; Buller, Gerald S. |
Kilometer-range, high resolution depth imaging via 1560 nm wavelength single-photon detection |
2013 |
Opt. Express |
21 |
8904-8915 |
| Manus, M. K. Mc; Kash, J. A.; Steen, S. E.; Polonsky, S.; Tsang, J.C.; Knebel, D. R.; Huott, W. |
PICA: Backside failure analysis of CMOS circuits using picosecond imaging circuit analysis |
2000 |
Microelectronics Reliability |
40 |
1353-1358 |
| Stellari, Franco; Song, Peilin |
Testing of ultra low voltage CMOS microprocessors using the superconducting single-photon detector (SSPD) |
2005 |
Proc. 12th IPFA |
|
2 |
