toggle visibility Search & Display Options

Select All    Deselect All
 | 
Citations
 | 
   print
Мошкова, М. А., Дивочий, А. В., Морозов, П. В., Золотов, Ф. И., Вахтомин, Ю. Б., & Смирнов, К. В. (2018). Высокоэффективные NBN однофотонные детекторы с разрешением числа фотонов. In Сборн. науч. труд. VII международн. конф. по фотонике и информац. опт. (pp. 400–401).
toggle visibility
Манова, Н. Н., Корнеева, Ю. П., & Корнеев, А. А., Гольцман, Г. Н. (2010). Cверхпроводящий однофотонный детектор, интегрированный с оптическим резонатором. In Науч. сессия НИЯУ МИФИ (pp. 92–93).
toggle visibility
Kitaygorsky, J., Komissarov, I., Jukna, A., Pan, D., Minaeva, O., Kaurova, N., et al. (2007). Dark counts in nanostructured nbn superconducting single-photon detectors and bridges. IEEE Trans. Appl. Supercond., 17(2), 275–278.
toggle visibility
Korneev, A., Korneeva, Y., Florya, I., Voronov, B., & Goltsman, G. (2012). NbN nanowire superconducting single-photon detector for mid-infrared. Phys. Procedia, 36, 72–76.
toggle visibility
Milostnaya, I., Korneev, A., Tarkhov, M., Divochiy, A., Minaeva, O., Seleznev, V., et al. (2008). Superconducting single photon nanowire detectors development for IR and THz applications. J. Low Temp. Phys., 151(1-2), 591–596.
toggle visibility
Minaeva, O., Fraine, A., Korneev, A., Divochiy, A., Goltsman, G., & Sergienko, A. (2012). High resolution optical time-domain reflectometry using superconducting single-photon detectors. In Frontiers in Opt. 2012/Laser Sci. XXVIII (Fw3a.39). Optical Society of America.
toggle visibility
Takemoto, K., Nambu, Y., Miyazawa, T., Sakuma, Y., Yamamoto, T., Yorozu, S., et al. (2015). Quantum key distribution over 120 km using ultrahigh purity single-photon source and superconducting single-photon detectors. Sci. Rep., 5, 14383.
toggle visibility
McCarthy, A., Krichel, N. J., Gemmell, N. R., Ren, X., Tanner, M. G., Dorenbos, S. N., et al. (2013). Kilometer-range, high resolution depth imaging via 1560 nm wavelength single-photon detection. Opt. Express, 21(7), 8904–8915.
toggle visibility
Manus, M. K. M., Kash, J. A., Steen, S. E., Polonsky, S., Tsang, J. C., Knebel, D. R., et al. (2000). PICA: Backside failure analysis of CMOS circuits using picosecond imaging circuit analysis. Microelectronics Reliability, 40, 1353–1358.
toggle visibility
Stellari, F., & Song, P. (2005). Testing of ultra low voltage CMOS microprocessors using the superconducting single-photon detector (SSPD). In Proc. 12th IPFA (2). IEEE.
toggle visibility
Select All    Deselect All
 | 
Citations
 | 
   print