List View
 |   | 
   web
Author Title Year Publication Volume Pages
Ferrari, S.; Kovalyuk, V.; Hartmann, W.; Vetter, A.; Kahl, O.; Lee, C.; Korneev, A.; Rockstuhl, C.; Gol'tsman, G.; Pernice, W. Hot-spot relaxation time current dependence in niobium nitride waveguide-integrated superconducting nanowire single-photon detectors 2017 Opt. Express 25 8739-8750
Ryabchun, S. A.; Tretyakov, I. V.; Pentin, I. V.; Kaurova, N. S.; Seleznev, V. A.; Voronov, B. M.; Finkel, M. I.; Maslennikov, S. N.; Gol'tsman, G. N. Low-noise wide-band hot-electron bolometer mixer based on an NbN film 2009 Radiophys. Quant. Electron. 52 576-582
Рябчун, С. А.; Третьяков, И. В.; Пентин, И. В; Каурова, Н. С.; Селезнев, В. А; Воронов, Б. М.; Финкель, М. И.; Масленников, С. Н.; Гольцман, Г. Н. Малошумящий широкополосный терагерцовый смеситель на эффекте электронного разогрева в плёнке NbN 2009 Известия высших учебных заведений. Радиофизика 52 641-648
Korneeva, Y. P.; Manova, N. N.; Dryazgov, M. A.; Simonov, N. O.; Zolotov, P. I.; Korneev, A. A. Influence of sheet resistance and strip width on the detection efficiency saturation in micron-wide superconducting strips and large-area meanders 2021 Supercond. Sci. Technol. 34 084001
Zhang, W.; Miao, W.; Zhong, J. Q.; Shi, S. C.; Hayton, D. J.; Vercruyssen, N.; Gao, J. R.; Goltsman, G. N. Temperature dependence of the receiver noise temperature and IF bandwidth of superconducting hot electron bolometer mixers 2014 Supercond. Sci. Technol. 27 085013 (1 to 5)
Smirnov, A. V.; Baryshev, A. M.; de Bernardis, P.; Vdovin, V. F.; Gol'tsman, G. N.; Kardashev, N. S.; Kuz'min, L. S.; Koshelets, V. P.; Vystavkin, A. N.; Lobanov, Yu. V.; Ryabchun, S. A.; Finkel, M. I.; Khokhlov, D. R. The current stage of development of the receiving complex of the millimetron space observatory 2012 Radiophys. Quant. Electron. 54 557-568
Lobanov, Y. V.; Vakhtomin, Y. B.; Pentin, I. V.; Rosental, V. A.; Smirnov, K. V.; Goltsman, G. N.; Volkov, O. Y.; Dyuzhikov, I. N.; Galiev, R. R.; Ponomarev, D. S.; Khabibullin, R. A. Time-resolved measurements of light–current characteristic and mode competition in pulsed THz quantum cascade laser 2021 Optical Engineering 60 1-8
Zinoni, C.; Alloing, B.; Li, L. H.; Marsili, F.; Fiore, A.; Lunghi, L.; Gerardino, A.; Vakhtomin, Y. B.; Smirnov, K. V.; Gol’tsman, G. N. Erratum: “Single photon experiments at telecom wavelengths using nanowire superconducting detectors” [Appl. Phys. Lett. 91, 031106 (2007)] 2010 Appl. Phys. Lett. 96 089901
Baselmans, J. J. A.; Baryshev, A.; Reker, S. F.; Hajenius, M.; Gao, J. R.; Klapwijk, T. M.; Voronov, B.; Gol’tsman, G. Influence of the direct response on the heterodyne sensitivity of hot electron bolometer mixers 2006 J. Appl. Phys. 100 084510 (1 to 7)
Karasik, B. S.; Zorin, M. A.; Milostnaya, I. I.; Elantev, A. I.; Gol’tsman, G. N.; Gershenzon, E. M. Subnanosecond switching of YBaCuO films between superconducting and normal states induced by current pulse 1995 J. Appl. Phys. 77 4064-4070
Gershenzon, E. M.; Gol'tsman, G. N.; Potapov, V. D.; Sergeev, A. V. Restriction of microwave enhancement of superconductivity in impure superconductors due to electron-electron interaction 1990 Solid State Communications 75 639-641
Воеводин, Е. И.; Гершензон, Е. М.; Гольцман, Г. Н.; Птицина, Н. Г. Энергетический спектр мелких акцепторов в сильно одноосно деформированном Ge 1989 Физика и техника полупроводников 23 1356-1361
Voevodin, E. I.; Gershenzon, E. M.; Goltsman, G. N.; Ptitsina, N. G. Energy-spectrum of shallow acceptors in Ge deformed strongly by a uniaxial pressure 1989 Sov. Phys. and Technics of Semiconductors 23 843-846
Гершензон, Е. М.; Гольцман, Г. Н.; Елантьев, А. И.; Кагане, М. Л.; Мултановский, В. В.; Птицина, Н. Г. Применение субмиллиметровой ЛОВ спектроскопии для определения химической природы и концентрации примесей в чистых полупроводниках 1983 Физика и техника полупроводников 17 1430-1437
Gershenson, E. M.; Gol'tsman, G. N.; Elant'ev, A. I.; Kagane, M. L.; Multanovskii, V. V.; Ptitsina, N. G. Use of submillimeter backward-wave tube spectroscopy in determination of the chemical nature and concentration of residual impurities in pure semiconductors 1983 Sov. Phys. Semicond. 17 908-913