| Author |
Title |
Year |
Publication |
Volume |
Pages |
| Gershenzon, E. M.; Gurvich, Y. A.; Orlova, S. L.; Ptitsina, N. G. |
Scattering of electrons by charged impurities in Ge under cyclotron resonance conditions |
1976 |
Presumably: Sov. Phys. Semicond. | Физика и техника полупроводников |
10 |
1379-1383 |
| Bondarenko, O. I.; Gershenzon, E. M.; Gurvich, Y. A.; Orlova, S. L.; Ptitsina, N. G. |
Measurement of the width of the cyclotron resonance line of n-type Ge in quantizing magnetic fields |
1972 |
Presumably: Sov. Phys. Semicond. | Физика и техника полупроводников |
6 |
362-363 |
| Банная, В. Ф.; Веселова, Л. И.; Гершензон, Е. М. |
Об одном способе определения концентрации глубоких примесей в германии |
1983 |
Физика и техника полупроводников |
17 |
1896-1898 |
| Гольцман, Г. Н.; Птицина, Н. Г.; Ригер, Е. Р. |
Оже-рекомбинация свободных носителей на мелких донорах в германии |
1984 |
Физика и техника полупроводников |
18 |
1684-1686 |
| Банная, В. Ф.; Веселова, Л. И.; Гершензон, Е. М.; Гусинский, Э. Н.; Литвак-Горская, Л. Б. |
Оценка точности метода определения раздельной концентрации примесей из измерений постоянной Холла |
1990 |
Физика и техника полупроводников |
24 |
2145-2150 |
