Селиверстов, С. В., Финкель, М. И., Рябчун, С. А., Воронов, Б. М., Каурова, Н. С., Селезнев, В. А., et al. (2014). Терагерцевый сверхпроводниковый детектор с аттоджоулевым энергетическим разрешением и постоянной времени 25 пс. In Труды XVIII международного симпозиума «Нанофизика и наноэлектроника» (Vol. 1, pp. 91–92).
Abstract: Представлены результаты измерения энергетического разрешения терагерцевого сверхпроводникового NbN-детектора на эффектеэлектронного разогрева, работающего при температуре около 10 К. Использование инновационной in situ технологии производства привело к существенному улучшению чувствительности детектора. Увеличение быстродействия детектора было достигнуто за счет реализации дополнительного диффузионного канала охла-ждения электронной подсистемы. Измеренное значение эквивалентной мощности шума на частоте 2.5 ТГц составило 2.0×10-13Вт•Гц-0.5, постоянной времени 25 пс. Соответствующее расчетное значение энергетического разрешения составило 2.5 аДж.
|
Корнеев, А. А., Окунев, О. В., Чулкова, Г. М., Смирнов, К. В., Милостная, И. И., Минаева, О. В., et al. (2015). Спонтанные и фотоиндуцированные резистивные состояния в узких сверхпроводящих NbN полосках. МПГУ.
Abstract: Монография посвящена актуальной проблеме современной фотоники: разработке высокочувствительных и быстродействующих сверхпроводниковых однофотонных детекторов на основе тонкой пленки NbN. В работе исследуются неравновесные процессы, протекающие в тонкой сверхпроводящей пленке после поглощения инфракрасного фотона и приводящие к возникновению резистивного состояния. На этих процессах основан механизм фотоотклика исследуемого в работе однофотонного детектора. В частности, исследуются зависимости квантовой эффективности и скорости темнового счета от геометрических параметров детектора: толщины пленки, ширины полоски, а также от величины транспортного тока детектора. Монография предназначена для студентов старших курсов, аспирантов и начинающих исследователей, работающих в области сверхпроводниковой наноэлектроники и радиофизики.
|
Samsonova, A. S., Zolotov, P. I., Baeva, E. M., Lomakin, A. I., Titova, N. A., Kardakova, A. I., et al. (2021). Signatures of surface magnetic disorder in niobium films. IEEE Trans. Appl. Supercond., 31(5), 1–5.
Abstract: We present our studies on the evolution of the normal and superconducting properties with thickness of thin Nb films with a low level of non-magnetic disorder ( kFl≈150 for the thickest film in the set). The analysis of the superconducting behavior points to the presence of magnetic moments, hidden in the native oxide on the surface of Nb films. Using the Abrikosov-Gorkov theory, we obtain the density of surface magnetic moments of 1013 cm −2 , which is in agreement with the previously reported data for Nb films.
|
Бурмистрова, А. В., & Девятов, И. А. (2014). Расчет электронного транспорта в гетероструктурах, содержащих многозонные сверхпроводники. In Труды XVIII международного симпозиума «Нанофизика и наноэлектроника» (Vol. 1, pp. 21–22).
Abstract: В рамках приближения сильной связи теоретически рассчитаны проводимости контактов вида нормальный металл/изолятор/одноорбитальный сверхпроводник с p-типом сверхпроводящего спаривания (N/I/Sp). Объяснено наблюдаемое экспериментально как появление пика при нулевом напряжении, так и его расщепление в зависимости от толщины слоя изолятора. В рамках этой же микроскопической теории развит вариант техники решеточной функции Грина в мацубаровом представлении. Используя разработанный подход, рассчитаны фазовые и температурные зависимости тока Джозефсона для контакта сверхпроводника s-типа и многозонного железосодержащего сверхпроводника (ферропниктида) для различных ориентаций границы по отношению к кристаллографическим осям пниктида.
|
Trifonov, A., Tong, C. - Y. E., Grimes, P., Lobanov, Y., Kaurova, N., Blundell, R., et al. (2017). Development of A Silicon Membrane-based Multi-pixel Hot Electron Bolometer Receiver. In IEEE Trans. Appl. Supercond. (Vol. 27, 6).
Abstract: We report on the development of a multi-pixel
Hot Electron Bolometer (HEB) receiver fabricated using
silicon membrane technology. The receiver comprises a
2 × 2 array of four HEB mixers, fabricated on a single
chip. The HEB mixer chip is based on a superconducting
NbN thin film deposited on top of the silicon-on-insulator
(SOI) substrate. The thicknesses of the device layer and
handling layer of the SOI substrate are 20 μm and 300 μm
respectively. The thickness of the device layer is chosen
such that it corresponds to a quarter-wave in silicon at
1.35 THz. The HEB mixer is integrated with a bow-tie
antenna structure, in turn designed for coupling to a
circular waveguide,
|
