toggle visibility Search & Display Options

Select All    Deselect All
 | 
Citations
 | 
   print
Золотов, Ф. И., Дивочий, А. В., Вахтомин, Ю. Б., Пентин, И. В., Морозов, П. В., Селезнев, В. А., et al. (2018). Применение тонких сверхпроводниковых пленок нитрида ванадия для изготовления счетчиков одиночных ИК-фотонов. In Сборн. науч. труд. VII международн. конф. по фотонике и информац. опт. (pp. 60–61).
toggle visibility
Gershenzon, E. M., Gol'tsman, G. N., & Semenov, A. D. (1983). Submillimeter backward wave tube spectrometer for measuring superconducting film transmission. Pribory i Tekhnika Eksperimenta, 26(5), 134–137.
toggle visibility
Voronov, B. M., Gershenzon, E. M., Gol'tsman, G. N., Gubkina, T. O., & Semash, V. D. (1994). Superconductive properties of ultrathin NbN films on different substrates. Sverkhprovodimost': Fizika, Khimiya, Tekhnika, 7(6), 1097–1102.
toggle visibility
Boyarskii, D. A., Gershenzon, V. E., Gershenzon, E. M., Gol'tsman, G. N., Ptitsina, N. G., Tikhonov, V. V., et al. (1996). On the possibility of determining the microstructural parameters of an oil-bearing layer from radiophysical measurement data. J. of Communications Technology and Electronics, 41(5), 408–414.
toggle visibility
Gershenson, E. M., Gol'tsman, G. N., Elant'ev, A. I., Kagane, M. L., Multanovskii, V. V., & Ptitsina, N. G. (1983). Use of submillimeter backward-wave tube spectroscopy in determination of the chemical nature and concentration of residual impurities in pure semiconductors. Sov. Phys. Semicond., 17(8), 908–913.
toggle visibility
Select All    Deselect All
 | 
Citations
 | 
   print