| Author |
Title |
Year |
Publication |
Volume |
Pages |
| Золотов, Ф. И.; Дивочий, А. В.; Вахтомин, Ю. Б.; Пентин, И. В.; Морозов, П. В.; Селезнев, В. А.; Смирнов, К. В. |
Применение тонких сверхпроводниковых пленок нитрида ванадия для изготовления счетчиков одиночных ИК-фотонов |
2018 |
Сборн. науч. труд. VII международн. конф. по фотонике и информац. опт. |
|
60-61 |
| Gershenzon, E. M.; Gol'tsman, G. N.; Semenov, A. D. |
Submillimeter backward wave tube spectrometer for measuring superconducting film transmission |
1983 |
Pribory i Tekhnika Eksperimenta |
26 |
134-137 |
| Voronov, B. M.; Gershenzon, E. M.; Gol'tsman, G. N.; Gubkina, T. O.; Semash, V. D. |
Superconductive properties of ultrathin NbN films on different substrates |
1994 |
Sverkhprovodimost': Fizika, Khimiya, Tekhnika |
7 |
1097-1102 |
| Boyarskii, D. A.; Gershenzon, V. E.; Gershenzon, E. M.; Gol'tsman, G. N.; Ptitsina, N. G.; Tikhonov, V. V.; Chulkova, G. M. |
On the possibility of determining the microstructural parameters of an oil-bearing layer from radiophysical measurement data |
1996 |
J. of Communications Technology and Electronics |
41 |
408-414 |
| Gershenson, E. M.; Gol'tsman, G. N.; Elant'ev, A. I.; Kagane, M. L.; Multanovskii, V. V.; Ptitsina, N. G. |
Use of submillimeter backward-wave tube spectroscopy in determination of the chemical nature and concentration of residual impurities in pure semiconductors |
1983 |
Sov. Phys. Semicond. |
17 |
908-913 |
