| 
Citations
 | 
   web
Смирнов, А. В. (2009). Исследование полосы преобразования терагерцовых смесителей на эффекте электронного разогрева в NbZr, NbN и в одиночном гетеропереходе AlGaAs/GaAs.
toggle visibility
Ожегов, Р. В., Окунев, О. В., Гольцман, Г. Н., Филиппенко, Л. В., & Кошелец, В. П. (2009). Флуктуационная чувствительность сверхпроводящего интегрального приемника терагерцового диапазона частот. Радиотех. электроник., 54(6), 750–755.
toggle visibility
Ожегов, Р. В., Окунев, О. В., & Гольцман, Г. Н. (2009). Флуктуационная чувствительность сверхпроводящего болометрического смесителя на эффекте разогрева электронного газа. Радиотехника, (3), 120–124.
toggle visibility
Елезов, М. С., Корнеев, А. А., Дивочий, А. В., & Гольцман, Г. Н. (2009). Сверхпроводящие однофотонные детекторы с разрешением числа фотонов. In Науч. сессия МИФИ (pp. 47–58).
toggle visibility
Флоря, И. Н. (2009). Ультрабыстрый однофотонный детектор для оптических применений. In Науч. сессия МИФИ (pp. 45–46).
toggle visibility
Минаева, О. В. (2009). Быстродействующий однофотонный детектор на основе тонкой сверхпроводниковой пленки NbN. Ph.D. thesis, , .
toggle visibility
Рябчун, С. А. (2009). Широкополосные высокостабильные терагерцовые смесители на горячих электронах из тонких сверхпроводниковых пленок NbN. Ph.D. thesis, , .
toggle visibility
Рябчун, С. А., Третьяков, И. В., Пентин, И. В., Каурова, Н. С., Селезнев, В. А., Воронов, Б. М., et al. (2009). Малошумящий широкополосный терагерцовый смеситель на эффекте электронного разогрева в плёнке NbN. Известия высших учебных заведений. Радиофизика, 52(8), 641–648.
toggle visibility
Doi, Y., Wang, Z., Ueda, T., Nickels, P., Komiyama, S., Patrashin, M., et al. (2009). CSIP – a novel photon-counting detector applicable for the SPICA far-infrared instrument. SPICA, (SPICA Workshop 2009).
toggle visibility
Ryabchun, S. A., Tretyakov, I. V., Pentin, I. V., Kaurova, N. S., Seleznev, V. A., Voronov, B. M., et al. (2009). Low-noise wide-band hot-electron bolometer mixer based on an NbN film. Radiophys. Quant. Electron., 52(8), 576–582.
toggle visibility