Author |
Title |
Year |
Publication |
DOI |
Shcheslavskiy, V.; Morozov, P.; Divochiy, A.; Vakhtomin, Yu.; Smirnov, K.; Becker, W. |
Ultrafast time measurements by time-correlated single photon counting coupled with superconducting single photon detector |
2016 |
Rev. Sci. Instrum. |
10.1063/1.4948920 |
Тархов, Михаил Александрович |
Разработка сверхпроводниковых однофотонных детекторов с повышенной спектральной чувствительностью и быстродействием. Автореферат |
2016 |
М. НИЦ “Курчатовский институт” |
|
Тархов, Михаил Александрович |
Разработка сверхпроводниковых однофотонных детекторов с повышенной спектральной чувствительностью и быстродействием |
2016 |
М. НИЦ “Курчатовский институт” |
|
Driessen, E. F. C.; Braakman, F. R.; Reiger, E. M.; Dorenbos, S. N.; Zwiller, V.; de Dood, M. J. A. |
Impedance model for the polarization-dependent optical absorption of superconducting single-photon detectors |
2009 |
Eur. Phys. J. Appl. Phys. |
10.1051/epjap/2009087 |
Zhang, Jin; Slysz, W.; Verevkin, A.; Okunev, O.; Chulkova, G.; Korneev, A.; Lipatov, A.; Gol'tsman, G. N.; Sobolewski, R. |
Response time characterization of NbN superconducting single-photon detectors |
2003 |
IEEE Trans. Appl. Supercond. |
10.1109/TASC.2003.813675 |
Kitaygorsky, J.; Zhang, J.; Verevkin, A.; Sergeev, A.; Korneev, A.; Matvienko, V.; Kouminov, P.; Smirnov, K.; Voronov, B.; Gol'tsman, G.; Sobolewski, R. |
Origin of dark counts in nanostructured NbN single-photon detectors |
2005 |
IEEE Trans. Appl. Supercond. |
10.1109/TASC.2005.849914 |
Marsili, F.; Verma, V. B.; Stern, J. A.; Harrington, S.; Lita, A. E.; Gerrits, T.; Vayshenker, I.; Baek, B.; Shaw, M. D.; Mirin, R. P.; Nam, S. W. |
Detecting single infrared photons with 93% system efficiency |
2013 |
Nat. Photon. |
10.1038/nphoton.2013.13 |
Stellari, Franco; Song, Peilin |
Testing of ultra low voltage CMOS microprocessors using the superconducting single-photon detector (SSPD) |
2005 |
Proc. 12th IPFA |
10.1109/IPFA.2005.1469119 |
Manus, M. K. Mc; Kash, J. A.; Steen, S. E.; Polonsky, S.; Tsang, J.C.; Knebel, D. R.; Huott, W. |
PICA: Backside failure analysis of CMOS circuits using picosecond imaging circuit analysis |
2000 |
Microelectronics Reliability |
10.1016/S0026-2714(00)00137-2 |
McCarthy, Aongus; Krichel, Nils J.; Gemmell, Nathan R.; Ren, Ximing; Tanner, Michael G.; Dorenbos, Sander N.; Zwiller, Val; Hadfield, Robert H.; Buller, Gerald S. |
Kilometer-range, high resolution depth imaging via 1560 nm wavelength single-photon detection |
2013 |
Opt. Express |
10.1364/OE.21.008904 |