| 
Citations
 | 
   web
Korneev, A., Korneeva, Y., Florya, I., Voronov, B., & Goltsman, G. (2012). NbN nanowire superconducting single-photon detector for mid-infrared. Phys. Procedia, 36, 72–76.
toggle visibility
Чулкова, Г. М., Семёнов, А. В., Дивочий, А. В., & Тархов, М. А. (2011). Сверхпроводниковый однофотонный детектор с разрешением числа фотонов для систем дальней телекоммуникационной связи. Ж. радиоэлектрон., (12), 1–6.
toggle visibility
Смирнов, К. В., Вахтомин, Ю. Б., Смирнов, А. В., Ожегов, Р. В., Пентин, И. В., Дивочий, А. В., et al. (2010). Приемники терагерцового и инфракрасного диапазонов, основанные на тонкопленочных сверхпроводниковых наноструктурах. Вестник НГУ. Серия: Физика, 5(4).
toggle visibility
Milostnaya, I., Korneev, A., Tarkhov, M., Divochiy, A., Minaeva, O., Seleznev, V., et al. (2008). Superconducting single photon nanowire detectors development for IR and THz applications. J. Low Temp. Phys., 151(1-2), 591–596.
toggle visibility
Korneev, A. A., Divochiy, A. V., Vakhtomin, Y. B., Korneeva, Y. P., Larionov, P. A., Manova, N. N., et al. (2013). IR single-photon receiver based on ultrathin NbN superconducting film. Rus. J. Radio Electron., (5).
toggle visibility
Korneeva, Y. P., Mikhailov, M. Y., Pershin, Y. P., Manova, N. N., Divochiy, A. V., Vakhtomin, Y. B., et al. (2014). Superconducting single-photon detector made of MoSi film. Supercond. Sci. Technol., 27(9), 095012.
toggle visibility
Takemoto, K., Nambu, Y., Miyazawa, T., Sakuma, Y., Yamamoto, T., Yorozu, S., et al. (2015). Quantum key distribution over 120 km using ultrahigh purity single-photon source and superconducting single-photon detectors. Sci. Rep., 5, 14383.
toggle visibility
Sidorova, M. V., Divochiy, A. V., Vakhtomin, Y. B., & Smirnov, K. V. (2015). Ultrafast superconducting single-photon detector with a reduced active area coupled to a tapered lensed single-mode fiber. J. Nanophoton., 9(1), 093051.
toggle visibility
McCarthy, A., Krichel, N. J., Gemmell, N. R., Ren, X., Tanner, M. G., Dorenbos, S. N., et al. (2013). Kilometer-range, high resolution depth imaging via 1560 nm wavelength single-photon detection. Opt. Express, 21(7), 8904–8915.
toggle visibility
Manus, M. K. M., Kash, J. A., Steen, S. E., Polonsky, S., Tsang, J. C., Knebel, D. R., et al. (2000). PICA: Backside failure analysis of CMOS circuits using picosecond imaging circuit analysis. Microelectronics Reliability, 40, 1353–1358.
toggle visibility