toggle visibility Search & Display Options

Select All    Deselect All
List View
 |   | 
   print
  Author Title Year Publication Volume Pages Links (up)
Heeres, R.W.; Dorenbos, S.N.; Koene, B.; Solomon, G.S.; Kouwenhoven, L.P.; Zwiller, V. On-Chip Single Plasmon Detection 2010 Nano Letters 10 661-664 details   doi
Manus, M. K. Mc; Kash, J. A.; Steen, S. E.; Polonsky, S.; Tsang, J.C.; Knebel, D. R.; Huott, W. PICA: Backside failure analysis of CMOS circuits using picosecond imaging circuit analysis 2000 Microelectronics Reliability 40 1353-1358 details   doi
Seki, T.; Shibata, H.; Takesue, H.; Tokura, Y.; Imoto, N. Comparison of timing jitter between NbN superconducting single-photon detector and avalanche photodiode 2010 Phys. C 470 1534-1537 details   doi
Ferrari, S.; Kovalyuk, V.; Hartmann, W.; Vetter, A.; Kahl, O.; Lee, C.; Korneev, A.; Rockstuhl, C.; Gol'tsman, G.; Pernice, W. Hot-spot relaxation time current dependence in niobium nitride waveguide-integrated superconducting nanowire single-photon detectors 2017 Opt. Express 25 8739-8750 details   openurl
Минаева, Ольга Вячеславовна Быстродействующий однофотонный детектор на основе тонкой сверхпроводниковой пленки NbN 2009 М. МПГУ details   pdf openurl
Select All    Deselect All
List View
 |   | 
   print

Save Citations:
Export Records: