| Author |
Title |
Year |
Publication |
Volume  |
Pages |
| Manus, M. K. Mc; Kash, J. A.; Steen, S. E.; Polonsky, S.; Tsang, J.C.; Knebel, D. R.; Huott, W. |
PICA: Backside failure analysis of CMOS circuits using picosecond imaging circuit analysis |
2000 |
Microelectronics Reliability |
40 |
1353-1358 |
| Zhang, J.; Boiadjieva, N.; Chulkova, G.; Deslandes, H.; Gol'tsman, G. N.; Korneev, A.; Kouminov, P.; Leibowitz, M.; Lo, W.; Malinsky, R.; Okunev, O.; Pearlman, A.; Slysz, W.; Smirnov, K.; Tsao, C.; Verevkin, A.; Voronov, B.; Wilsher, K.; Sobolewski, R. |
Noninvasive CMOS circuit testing with NbN superconducting single-photon detectors |
2003 |
Electron. Lett. |
39 |
1086-1088 |
| Манова, Н.Н.; Корнеева, Ю.П.; Корнеев, А.А.; Слыш, В.; Воронов, Б.М.; Гольцман, Г.Н. |
Сверхпроводниковый NbN однофотонный детектор, интегрированный с четвертьволновым резонатором |
2011 |
Письма в Журнал технической физики |
37 |
7 |
| Manova, N. N.; Korneeva, Yu. P.; Korneev, A. A.; Slysz, W.; Voronov, B. M.; Gol'tsman, G. N. |
Superconducting NbN single-photon detector integrated with quarter-wave resonator |
2011 |
Tech. Phys. Lett. |
37 |
469-471 |
| Slysz, W.; Wegrzecki, M.; Bar, J.; Grabiec, P.; Gol'tsman, G. N.; Verevkin, M.; Sobolewski, R. |
NbN superconducting single-photon detectors coupled with a communication fiber |
2004 |
INIS |
37 |
1-2 |
