|
|
Смирнов, К. В. (2000). Энергетическая релаксация электронов в 2D-канале гетеропереходов GAAS/ALGAAS и транспортные процессы в структурах полупроводник-сверхпроводник на их основе. Ph.D. thesis, , .
Abstract: Диссертация посвящена изучению электрон-фононного взаимодействия в двумерном электронном газе, образующемся на границе раздела полупроводников AlGaAs и GaAs, а также созданию на основе гетероперехода GaAs/AlGaAs и сверхпроводника NbN гибридных структур сверхпроводник-полупроводник-сверхпроводник и изучению их электрофизических свойств.
|
|
|
|
Гольцман, Г. Н., Веревкин, А. А., Гершензон, Е. М., Птицина, Н. Г., Смирнов, К. В., & Чулкова, Г. М. (1995). Исследования процессов неупругой релаксации и примесная спектроскопия-релаксометрия в двумерном электронном газе в полупроводниковых структурах с квантовыми ямами.
Abstract: В гетероструктурах GaAs/AlGaAs впервые прямым методом измерена температурная зависимость вpемени энеpгетической pелаксации двумерного электронного газа te(T) в широком диапазоне температур Т=1,5 – 50 К в квазиравновесных условиях. Для измерений использовался высокочувствительный спектрометр миллиметрового диапазона волн с высоким временным разрешением, который позволял измерять релаксационные времена до 150 пс с погрешностью не более 20%. Верхний предел температуры определялся временным разрешением спектрометра. Исследования проводились на высококачественных образцах с поверхностной концентрацией носителей ns = 4,2 1011 см-2 и подвижностью m = 7 105 см2В-1с-1 (при Т = 4,2К). В квазиравновесных условиях из температурной зависимости tе определен предел подвижности при низких температурах (T<4.2 K), связанный с рассеянием на пьезоакустическом потенциале, получено время неупругой релаксации, связанное с рассеянием на деформационном потенциале (15 K25 K), получено характерное время испускания оптического фонона (tLO>4,5пс), которое существенно превышает время сронтанного излучения оптического фонона (примерно в 30 раз), что связано с большой ролью процессов перепоглащения фононов электронами.При низких температурах проведены измерения tе в условиях сильного разогрева. Полученные значения tе и зависимость tе от температуры электронов Те совпадают с tе(Т) в квазиравновесных условиях при Т=Те. Из полученных значений tе(Те) построена зависимость мощности энергетических потерь от Те, которая хорошо согласуется с литературными данными.Начаты измерения в магнитном поле, которые показывают переспективность использованного нами метода измерений как в области слабых магнитных полей при факторе заполнения >10, так и в области сильных магнитных полей при факторе заполнения >1-2.
|
|
|
|
Смирнов, К. В. (2003). AlGaAs/GaAs смеситель на эффекте разогрева двумерных электронов для тепловизора субмиллиметрового диапазона. In Тезисы докладов VI Российской конференции по физике полупроводников (181).
|
|
|
|
Kroug, M., Yagoubov, P., Gol'tsman, G., & Kollberg, E. (1997). NbN quasioptical phonon cooled hot electron bolometric mixers at THz frequencies. In Inst. Phys. Conf. Ser. (Vol. 1, pp. 405–408). Bristol.
|
|
|
|
Merkel, H. F., Yagoubov, P. A., Kroug, M., Khosropanah, P., Kollberg, E. L., Gol’tsman, G. N., et al. (1998). Noise temperature and absorbed LO power measurement methods for NbN phonon-cooled hot electron bolometric mixers at terahertz frequencies. In Proc. 28th European Microwave Conf. (Vol. 1, pp. 294–299).
Abstract: In this paper the absorbed LO power requirements and the noise performance of NbN based phonon-cooled hot electron bolometric (HEB) quasioptical mixers are investigated for RF frequencies in the 0.55-1.1 range The minimal measured DSB noise temperatures are about 500 K at 640 GHz, 600 K at 750 GHz, 850 K at 910 GHz and 1250 K at 1.1 THz. The increase in noise temperature at 1.1THz is attributed to water absorption. The absorbed LO power is measured using a calorimetric approach. The results are subsequently corrected for lattice heating. These values are compared to results of a novel one dimensional hot spot mixer models and to a more traditional isotherm method which tends to underestimate the absorbed LO power for small bias powers. Typically a LO power between 50nW and 100nW is needed to pump the device to the optimal operating point.
|
|
