Home | << 1 >> |
Author | Title | Year | Publication | Volume | Pages |
---|---|---|---|---|---|
Гершензон, Е. М.; Гольцман, Г. Н.; Елантьев, А. И.; Кагане, М. Л.; Мултановский, В. В.; Птицина, Н. Г. | Применение субмиллиметровой ЛОВ спектроскопии для определения химической природы и концентрации примесей в чистых полупроводниках | 1983 | Физика и техника полупроводников | 17 | 1430-1437 |
Gershenson, E. M.; Gol'tsman, G. N.; Elant'ev, A. I.; Kagane, M. L.; Multanovskii, V. V.; Ptitsina, N. G. | Use of submillimeter backward-wave tube spectroscopy in determination of the chemical nature and concentration of residual impurities in pure semiconductors | 1983 | Sov. Phys. Semicond. | 17 | 908-913 |