Author |
Title |
Year ![sorted by Year field, ascending order (up)](img/sort_asc.gif) |
Publication |
DOI |
Gershenzon, E. M.; Gol'tsman, G. N.; Multanovskii, V. V.; Ptitsina, N. G. |
Kinetics of electron and hole binding into excitons in germanium |
1983 |
Sov. Phys. JETP |
|
Гершензон, Е. М.; Гольцман, Г. Н.; Елантьев, А. И.; Кагане, М. Л.; Мултановский, В. В.; Птицина, Н. Г. |
Применение субмиллиметровой ЛОВ спектроскопии для определения химической природы и концентрации примесей в чистых полупроводниках |
1983 |
Физика и техника полупроводников |
|
Gershenzon, E. M.; Gol'tsman, G. N.; Semenov, A. D. |
Submillimeter backward wave tube spectrometer for measuring superconducting film transmission |
1983 |
Pribory i Tekhnika Eksperimenta |
|
Gershenson, E. M.; Gol'tsman, G. N.; Elant'ev, A. I.; Kagane, M. L.; Multanovskii, V. V.; Ptitsina, N. G. |
Use of submillimeter backward-wave tube spectroscopy in determination of the chemical nature and concentration of residual impurities in pure semiconductors |
1983 |
Sov. Phys. Semicond. |
|
Банная, В. Ф.; Веселова, Л. И.; Гершензон, Е. М. |
Об одном способе определения концентрации глубоких примесей в германии |
1983 |
Физика и техника полупроводников |
|