|
|
Gershenzon EM, Gol'tsman GN, Mel'nikov AP. Binding energy of a carrier with a neutral impurity atom in germanium and in silicon. JETP Lett. 1971;14(5):185–6.
|
|
|
|
Gershenzon EM, Gol'tsman GN. Transitions of electrons between excited states of donors in germanium. JETP Lett. 1971;14(2):63–5.
|
|
|
|
Gershenzon EM, Goltsman G, Orlova S, Ptitsina N, Gurvich Y. Germanium hot-electron narrow-band detector. Sov Radio Engineering And Electronic Physics. 1971;16(8):1346.
|
|
|
|
Gershenzon EM, Gol'tsman GN, Emtsev VV, Mashovets TV, Ptitsyna NG, Ryvkin SM. Role of impurities of groups III and V in the formation of defects following γ irradiation of germanium. JETP Lett. 1971;14(6):241.
|
|
|
|
Pentin I, Finkel M, Maslennikov S, Vakhtomin Y, Smirnov K, Kaurova N, et al. Superconducting hot-electron-bolometer mixers for the mid-IR. Rus J Radio Electron [Internet]. 2017 [cited 2024 Aug 20];(10):http://jre.cplire.ru/jre/oct17/9/text.pdf. Available from: http://jre.cplire.ru/jre/oct17/9/abstract_e.html
Abstract: The work presents the result of development of the NbN superconducting hot-electron-bolometer (HEB) mixer. The sensitive element of the mixer is directly coupled to mid-IR radiation, and doesn’t have planar metallic antenna. Investigations of noise characteristics of NbN HEB mixer were performed at the frequency 28.4 THz (λ = 10.6 µm) by using gas-discharge CW CO2-laser without consideration of optical and electrical losses in the heterodyne receiver. The noise temperature of NbN HEB mixer with the size of the sensitive element 10 µm × 10 µm was 2320 K (~ 1.5hν/kB) at the heterodyne frequency of 28.4 THz. The noise temperature was determined by measuring the Y-factor taking into account the term which describes fluctuations of zero-point oscillations in accordance with the fluctuation-dissipation theorem of Calle-Welton. Isothermal method was used to estimate the absorbed heterodyne radiation power which was 9 µW at the optimal operating point for the minimum noise temperature of NbN HEB mixer.
|
|
|
|
Mel’nikov AP, Gurvich YA, Shestakov LN, Gershenzon EM. Magnetic field effects on the nonohmic impurity conduction of uncompensated crystalline silicon. Jetp Lett. 2001;73(1):44–7.
Abstract: The impurity conduction of a series of crystalline silicon samples with the concentration of major impurity N ≈ 3 × 1016 cm−3 and with a varied, but very small, compensation K was measured as a function of the electric field E in various magnetic fields H-σ(H, E). It was found that, at K < 10−3 and in moderate E, where these samples are characterized by a negative nonohmicity (dσ(0, E)/dE < 0), the ratio σ(H, E)/σ(0, E) > 1 (negative magnetoresistance). With increasing E, these inequalities are simultaneously reversed (positive nonohmicity and positive magnetoresistance). It is suggested that both negative and positive nonohmicities are due to electron transitions in electric fields from impurity ground states to states in the Mott-Hubbard gap.
|
|
|
|
Гершензон ЕМ, Грачев СА, Литвак-Горская ЛБ. Механизм преобразования частоты в n-InSb-смесителе. Физика и техника полупроводников. 1991;25(11):1986–98.
Abstract: Проведено комплексное исследование n-InSb смесителя на λ=2.6 мм, включающее в себя исследование вольт-амперных характеристик при E=0−2 В/см, температурной зависимости проводимости в диапазоне T=1.6−20 K, высокочастотной проводимости при f=0.5−10 МГц и магнитосопротивления при H=0−5 кЭ. Показано, что в оптимальном режиме механизм преобразования частоты связан с фотоионизационными процессами при прыжковой фотопроводимости (ПФП). На основе модели ПФП рассчитан коэффициент преобразования смесителя и произведено сопоставление его с экспериментом. Показана несостоятельность модели преобразования частоты в компенсированном n-InSb (K≥0.8), основанной на разогреве электронов. Обсуждены требования к параметрам материала и режимам n-InSb смесителя миллиметрового диапазона волн.
|
|
|
|
Банная ВФ, Веселова ЛИ, Гершензон ЕМ, Гусинский ЭН, Литвак-Горская ЛБ. Оценка точности метода определения раздельной концентрации примесей из измерений постоянной Холла. Физика и техника полупроводников. 1990;24(12):2145–50.
Abstract: На примере p-Si⟨B,\,Ga⟩ с различной степенью компенсации проведена сравнительная оценка точности определения раздельной концентрации примесей по температурной зависимости концентрации дырок p(T) в случае одной и двух легирующих примесей с энергиями ионизации, различающимися менее чем в 2 раза. Исследована функция среднеквадратичного отклонения в пространстве параметров D(Nк, N2) (Nк, N1 и N2 — концентрации компенсирующих примесей бора и галлия соответственно, N2≫N1) в предположении, что N2, энергии B и Ga известны. Показано, что в случае двух легирующих примесей D(Nк, N1) в окрестностях минимума имеет «овражный» рельеф и при некоторых соотношениях между Nк и N1 разброс искомых величин превышает порядок, причем увеличение точности измерений p(T) существенного улучшения в вычислении параметров не дает. При одной легирующей примеси точность вычисления параметров высокая.
|
|
|
|
Воеводин ЕИ, Гершензон ЕМ, Гольцман ГН, Птицина НГ. Влияние магнитного поля на захват свободных носителей мелкими примесями в Ge. Физика и техника полупроводников. 1990;24(10):1881–3.
Abstract: Цель настоящей работы — измерение кинетики примесной фотопроводимости в квантующих магнитных полях.
|
|
|
|
Гальперин ЮМ, Гершензон ЕМ, Дричко ИЛ, Литвак-Горская ЛБ. Кинетические явления в компенсированном n-InSb при низких температурах. Физика и техника полупроводников. 1990;24(1):3–24.
Abstract: Представлен обзор результатов цикла исследований природы электропроводности предельно очищенных образцов антимонида индия n-типа. Рассмотрены способы определения концентрации доноров и степени компенсации в этом материале, обсуждается роль свободных и локализованных на донорах электронов в электропроводности при гелиевых температурах. Обсуждение основано на анализе результатов исследования гальваномагнитных явлений, поглощения СВЧ излучения миллиметрового и субмиллиметрового диапазонов и ультразвука. Рассмотрены способы определения характеристик материала на основе комплекса результатов, полученных с помощью указанных методов. Обсуждается также фотопроводимость по примесям в n-InSb.
|
|
