|
|
Смирнов КВ. Энергетическая релаксация электронов в 2D-канале гетеропереходов GAAS/ALGAAS и транспортные процессы в структурах полупроводник-сверхпроводник на их основе [Ph.D. thesis].; 2000.
Abstract: Диссертация посвящена изучению электрон-фононного взаимодействия в двумерном электронном газе, образующемся на границе раздела полупроводников AlGaAs и GaAs, а также созданию на основе гетероперехода GaAs/AlGaAs и сверхпроводника NbN гибридных структур сверхпроводник-полупроводник-сверхпроводник и изучению их электрофизических свойств.
|
|
|
|
Корнеев АА, Окунев ОВ, Чулкова ГМ, Смирнов КВ, Милостная ИИ, Минаева ОВ, et al. Спонтанные и фотоиндуцированные резистивные состояния в узких сверхпроводящих NbN полосках. МПГУ; 2015.
Abstract: Монография посвящена актуальной проблеме современной фотоники: разработке высокочувствительных и быстродействующих сверхпроводниковых однофотонных детекторов на основе тонкой пленки NbN. В работе исследуются неравновесные процессы, протекающие в тонкой сверхпроводящей пленке после поглощения инфракрасного фотона и приводящие к возникновению резистивного состояния. На этих процессах основан механизм фотоотклика исследуемого в работе однофотонного детектора. В частности, исследуются зависимости квантовой эффективности и скорости темнового счета от геометрических параметров детектора: толщины пленки, ширины полоски, а также от величины транспортного тока детектора. Монография предназначена для студентов старших курсов, аспирантов и начинающих исследователей, работающих в области сверхпроводниковой наноэлектроники и радиофизики.
|
|
|
|
Il'in K, Siegel M, Semenov A, Engel A, Hübers H-W, Hollmann E, et al. Thickness dependence of superconducting properties of ultrathin Nb and NbN films. In: AKF-Frühjahrstagung.; 2004.
|
|
|
|
Gurovich BA, Tarkhov MA, Prikhod'ko KE, Kuleshova EA, Komarov DA, Stolyarov VL, et al. Controlled modification of superconducting properties of NbN ultrathin films under composite ion beam irradiation. Nanotechnologies in Russia. 2014;9(7):386–90.
Abstract: In this work, the results of studying the microstructure and superconducting properties of ultrathin films on the basis of NbN in the initial state and after modification by being subjecting to composite ion beam irradiation with the energy ~1–3) keV are presented. HRTEM analysis showed that the initial films on the sapphire substrate in orientation “c-cut†are characterized by a grain size essentially exceeding the film thickness, while on the other substrates the size of grains corresponds to the thickness of film. Using XPS analysis, it was shown that in the initial films the atomic ratio of Nb and N is 0.51/0.49, respectively, the percentage of oxygen being lower than 5%. For ultrathin films 5 nm in thickness, the critical temperature of transit to superconducting state (T c) is found to be ~3.6 K and the density of critical current is jc ~8MA/cm2. In the work it is experimentally determined that the irradiation of NbN films by composite ion beams leads to the controlled modification of its superconducting properties due to the process of selective substitution of nitrogen atoms on the oxygen atoms.
|
|
|
|
Titova NA, Baeva EM, Kardakova AI, Goltsman GN. Fabrication of NbN/SiNx:H/SiO2 membrane structures for study of heat conduction at low temperatures. In: J. Phys.: Conf. Ser. Vol 1695.; 2020. 012190.
Abstract: Here we report on the development of NbN/SiNx:H/SiO2-membrane structures for investigation of the thermal transport at low temperatures. Thin NbN films are known to be in the regime of a strong electron-phonon coupling, and one can assume that the phononic and electronic baths in the NbN are in local equilibrium. In such case, the cooling of the NbN-based devices strongly depends on acoustic matching to the substrate and substrate thermal characteristics. For the insulating membrane much thicker than the NbN film, our preliminary results demonstrate that the membrane serves as an additional channel for the thermal relaxation of the NbN sample. That implies a negligible role of thermal boundary resistance of the NbN-SiNx:H interface in comparison with the internal thermal resistance of the insulating membrane.
|
|
