|
|
Manova NN, Simonov NO, Korneeva YP, Korneev AA. Developing of NbN films for superconducting microstrip single-photon detector. In: J. Phys.: Conf. Ser. Vol 1695.; 2020. 012116 (1 to 5).
Abstract: We optimized NbN films on a Si substrate with a buffer SiO2 layer to produce superconducting microstrip single-photon detectors with saturated dependence of quantum efficiency (QE) versus normalized bias current. We varied thickness of films and observed the maximum QE saturation for device based on the thinner film with the lowest ratio RS300/RS20.
|
|
|
|
Titova NA, Baeva EM, Kardakova AI, Goltsman GN. Fabrication of NbN/SiNx:H/SiO2 membrane structures for study of heat conduction at low temperatures. In: J. Phys.: Conf. Ser. Vol 1695.; 2020. 012190.
Abstract: Here we report on the development of NbN/SiNx:H/SiO2-membrane structures for investigation of the thermal transport at low temperatures. Thin NbN films are known to be in the regime of a strong electron-phonon coupling, and one can assume that the phononic and electronic baths in the NbN are in local equilibrium. In such case, the cooling of the NbN-based devices strongly depends on acoustic matching to the substrate and substrate thermal characteristics. For the insulating membrane much thicker than the NbN film, our preliminary results demonstrate that the membrane serves as an additional channel for the thermal relaxation of the NbN sample. That implies a negligible role of thermal boundary resistance of the NbN-SiNx:H interface in comparison with the internal thermal resistance of the insulating membrane.
|
|
|
|
Voronov BM, Gershenzon EM, Gol'tsman GN, Gubkina TO, Semash VD. Superconductive properties of ultrathin NbN films on different substrates. Sverkhprovodimost': Fizika, Khimiya, Tekhnika. 1994;7(6):1097–102.
Abstract: A study was made on dependence of surface resistance, critical temperature and width of superconducting transition on application temperature and thickness of NbN films, which varied within the range of 3-10 nm. Plates of sapphire, fused and monocrystalline quartz, MgO, as well as Si and silicon oxide were used as substrates. NbN films with 160 μθ·cm specific resistance and 16.5 K (Tc) critical temperature were obtained on sapphire substrates. Intensive growth of ΔTc was noted for films, applied on fused quartz, with increase of precipitation temperature. This is explained by occurrence of high tensile stresses in NbN films, caused by sufficient difference of thermal coefficients of expansion of NbN and quartz.
|
|
|
|
Корнеев АА, Окунев ОВ, Чулкова ГМ, Смирнов КВ, Милостная ИИ, Минаева ОВ, et al. Спонтанные и фотоиндуцированные резистивные состояния в узких сверхпроводящих NbN полосках. МПГУ; 2015.
Abstract: Монография посвящена актуальной проблеме современной фотоники: разработке высокочувствительных и быстродействующих сверхпроводниковых однофотонных детекторов на основе тонкой пленки NbN. В работе исследуются неравновесные процессы, протекающие в тонкой сверхпроводящей пленке после поглощения инфракрасного фотона и приводящие к возникновению резистивного состояния. На этих процессах основан механизм фотоотклика исследуемого в работе однофотонного детектора. В частности, исследуются зависимости квантовой эффективности и скорости темнового счета от геометрических параметров детектора: толщины пленки, ширины полоски, а также от величины транспортного тока детектора. Монография предназначена для студентов старших курсов, аспирантов и начинающих исследователей, работающих в области сверхпроводниковой наноэлектроники и радиофизики.
|
|
|
|
Смирнов КВ. Энергетическая релаксация электронов в 2D-канале гетеропереходов GAAS/ALGAAS и транспортные процессы в структурах полупроводник-сверхпроводник на их основе [Ph.D. thesis].; 2000.
Abstract: Диссертация посвящена изучению электрон-фононного взаимодействия в двумерном электронном газе, образующемся на границе раздела полупроводников AlGaAs и GaAs, а также созданию на основе гетероперехода GaAs/AlGaAs и сверхпроводника NbN гибридных структур сверхпроводник-полупроводник-сверхпроводник и изучению их электрофизических свойств.
|
|
