|
Смирнов КВ. AlGaAs/GaAs смеситель на эффекте разогрева двумерных электронов для тепловизора субмиллиметрового диапазона [abstract]. In: Тезисы докладов VI Российской конференции по физике полупроводников.; 2003. 181.
|
Verevkin A, Gershenzon EM, Gol'tsman GN, Ptitsina NG, Chulkova GM, Smirnov KS, et al. Direct measurements of energy relaxation times in two-dimensional structures under quasi-equilibrium conditions. In: Mater. Sci. Forum. Vol 384-3.; 2002. p. 107–16.
Abstract: A new microwave technique was successfully applied for direct studies of energy relaxation times in two-dimensional AlGaAs/GaAs structures under quasi-equilibrium conditions in the nanosecond and picosecond time scale. We report our results of energy relaxation time measurements in the temperature range 1.6-50 K, in quantum Hall effect regime in magnetic fields up to 4 T.
|
Kawano Y, Ishibashi K. An on-chip near-field terahertz probe and detector. Nature Photon. 2008;2(10):618–21.
Abstract: The advantageous properties of terahertz waves, such as their transmission through objects opaque to visible light, are attracting attention for imaging applications. A promising approach for achieving high spatial resolution is the use of near-field imaging. Although this method has been well established in the visible and microwave regions, it is challenging to perform in the terahertz region. In the terahertz techniques investigated to date, detectors have been located remotely from the probe, which degrades sensitivity, and the influence of far-field waves is unavoidable. Here we present a new integrated detection device for terahertz near-field imaging in which all the necessary detection components — an aperture, a probe and a terahertz detector — are integrated on one semiconductor chip, which is cryogenically cooled. This scheme allows highly sensitive, high-resolution detection of the evanescent field alone and promises new capabilities for high-resolution terahertz imaging.
|
Шангина ЕЛ, Смирнов КВ, Морозов ДВ, Ковалюк ВВ, Гольцман ГН, Веревкин АА, et al. Полоса и потери преобразования полупроводникового смесителя с фононным каналом охлаждения двумерных электронов. Физика и техника полупроводников. 2010;44(11):1475–8.
Abstract: Методом субмиллиметровой спектроскопии с высоким временным разрешением измерены температурная и концентрационная зависимости полосы преобразования смесителей терагерцового диапазона AlGaAs/GaAs на разогреве двумерных электронов с фононным каналом их охлаждения. Полоса преобразования на уровне 3 дБ (f3 dB) при 4.2 K при изменении концентрации ns варьируется в пределах 150-250 МГц в соответствии со степенным законом f3 dB propto ns-0.5, что соответствует доминирующему механизму рассеяния на пьезоэлектрических фононах. Минимальное значение коэффициента потерь преобразования полупроводникового смесителя достигается в структурах с высокой подвижностью носителей mu>3·105 см2/В·с при 4.2 K.
|
|
An Z, Chen J-C, Ueda T, Komiyama S, Hirakawa K. Infrared phototransistor using capacitively coupled two-dimensional electron gas layers. Appl Phys Lett. 2005;86:172106-3.
|
