| Author |
Title |
Year |
Publication |
DOI |
| Bondarenko, O. I.; Gershenzon, E. M.; Gurvich, Y. A.; Orlova, S. L.; Ptitsina, N. G. |
Measurement of the width of the cyclotron resonance line of n-type Ge in quantizing magnetic fields |
1972 |
Presumably: Sov. Phys. Semicond. | Физика и техника полупроводников |
|
| Gershenzon, E. M.; Gurvich, Y. A.; Orlova, S. L.; Ptitsina, N. G. |
Scattering of electrons by charged impurities in Ge under cyclotron resonance conditions |
1976 |
Presumably: Sov. Phys. Semicond. | Физика и техника полупроводников |
|
| Гершензон, Е. М.; Мельников, А. П.; Рабинович, Р. И.; Смирнова, В. Б. |
О возможности создания инверсной функции распределения свободных носителей в полупроводниках при захвате на мелкие нейтральные примеси |
1983 |
Физика и техника полупроводников |
|
| Гершензон, Е. М.; Литвак-Горская, Л. Б.; Рабинович, Р. И. |
Отрицательное магнитосопротивление в случае проводимости по верхней зоне Хаббарда |
1983 |
Физика и техника полупроводников |
|
| Банная, В. Ф.; Веселова, Л. И.; Гершензон, Е. М. |
Об одном способе определения концентрации глубоких примесей в германии |
1983 |
Физика и техника полупроводников |
|
