|   | 
Details
   web
Records
Author Voevodin, E. I.; Gershenzon, E. M.; Goltsman, G. N.; Ptitsina, N. G.
Title Energy-spectrum of shallow acceptors in Ge deformed strongly by a uniaxial pressure Type Journal Article
Year 1989 Publication Sov. Phys. and Technics of Semiconductors Abbreviated Journal Sov. Phys. and Technics of Semiconductors
Volume (down) 23 Issue 8 Pages 843-846
Keywords Ge, crystallography
Abstract Проведены исследования спектров фототермической ионизации мелких акцепторов (В, Аl) в Ge, предельно сжатом вдоль кристаллографической оси [100]. Из данных измерений с учетом теории построен энергетический спектр примесей. Показано, что энергии большого числа уровней четных и нечетных состояний хорошо соответствуют расчету, выполненному для примесей в анизотропном полупроводнике с параметром анизотропии γ=m∗⊥/m∗∥>1.
Address
Corporate Author Thesis
Publisher Place of Publication Editor
Language Summary Language Original Title
Series Editor Series Title Abbreviated Series Title
Series Volume Series Issue Edition
ISSN ISBN Medium
Area Expedition Conference
Notes Энергетический спектр мелких акцепторов в сильно одноосно деформированном Ge Approved no
Call Number Serial 1692
Permanent link to this record
 

 
Author Voevodin, E. I.; Gershenzon, E. M.; Goltsman, G. N.; Ptitsina, N. G.; Chulkova, G. M.
Title Capture of free holes by charged acceptors in uniaxially deformed Ge Type Journal Article
Year 1988 Publication Fizika i Tekhnika Poluprovodnikov Abbreviated Journal Fizika i Tekhnika Poluprovodnikov
Volume (down) 22 Issue 3 Pages 540-543
Keywords Ge, free holes, capture
Abstract Цель настоящей работы — исследование кинетики примесной фотопрово­димости p-Ge при сильном одноосном сжатии в широком диапазоне изменения интенсивности примесного подсвета, создающего свободные дырки, и опреде­ление сечения каскадного захвата дырок на мелкие заряженные акцепторы в условиях преобладания электрон-фононного механизма потерь энергии.
Address
Corporate Author Thesis
Publisher Place of Publication Editor
Language Russian Summary Language Original Title
Series Editor Series Title Abbreviated Series Title
Series Volume Series Issue Edition
ISSN ISBN Medium
Area Expedition Conference
Notes Захват свободных дырок заряженными акцепторами в одноосно деформированном Ge Approved no
Call Number Serial 1698
Permanent link to this record
 

 
Author Gershenzon, E. M.; Orlov, L. A.; Ptitsina, N. G.
Title Absorption spectra in electron transitions between excited states of impurities in germanium Type Journal Article
Year 1975 Publication JETP Lett. Abbreviated Journal JETP Lett.
Volume (down) 22 Issue 4 Pages 95-97
Keywords Ge, impurities, excited states, absorption spectra
Abstract
Address
Corporate Author Thesis
Publisher Place of Publication Editor
Language Summary Language Original Title
Series Editor Series Title Abbreviated Series Title
Series Volume Series Issue Edition
ISSN ISBN Medium
Area Expedition Conference
Notes Approved no
Call Number Serial 1773
Permanent link to this record
 

 
Author Gershenzon, E. M.; Gol'tsman, G.; Ptitsina, N. G.
Title Energy spectrum of free excitons in germanium Type Journal Article
Year 1973 Publication JETP Lett. Abbreviated Journal JETP Lett.
Volume (down) 18 Issue 3 Pages 93
Keywords Ge, free excitons, energy spectrum
Abstract
Address
Corporate Author Thesis
Publisher Place of Publication Editor
Language Summary Language Original Title
Series Editor Series Title Abbreviated Series Title
Series Volume Series Issue Edition
ISSN ISBN Medium
Area Expedition Conference
Notes Approved no
Call Number Serial 1734
Permanent link to this record
 

 
Author Gershenson, E. M.; Gol'tsman, G. N.; Elant'ev, A. I.; Kagane, M. L.; Multanovskii, V. V.; Ptitsina, N. G.
Title Use of submillimeter backward-wave tube spectroscopy in determination of the chemical nature and concentration of residual impurities in pure semiconductors Type Journal Article
Year 1983 Publication Sov. Phys. Semicond. Abbreviated Journal Sov. Phys. Semicond.
Volume (down) 17 Issue 8 Pages 908-913
Keywords BWO spectroscopy, pure semiconductors, residual impurities
Abstract
Address
Corporate Author Thesis
Publisher Place of Publication Editor
Language Summary Language Original Title
Series Editor Series Title Abbreviated Series Title
Series Volume Series Issue Edition
ISSN ISBN Medium
Area Expedition Conference
Notes Применение субмиллиметровой ЛОВ спектроскопии для определения химической природы и концентрации примесей в чистых полупроводниках Approved no
Call Number Serial 1714
Permanent link to this record