Voevodin, E. I., Gershenzon, E. M., Goltsman, G. N., & Ptitsina, N. G. (1989). Energy-spectrum of shallow acceptors in Ge deformed strongly by a uniaxial pressure. Sov. Phys. and Technics of Semiconductors, 23(8), 843–846.
Abstract: Проведены исследования спектров фототермической ионизации мелких акцепторов (В, Аl) в Ge, предельно сжатом вдоль кристаллографической оси [100]. Из данных измерений с учетом теории построен энергетический спектр примесей. Показано, что энергии большого числа уровней четных и нечетных состояний хорошо соответствуют расчету, выполненному для примесей в анизотропном полупроводнике с параметром анизотропии γ=m∗⊥/m∗∥>1.
|
Voevodin, E. I., Gershenzon, E. M., Goltsman, G. N., Ptitsina, N. G., & Chulkova, G. M. (1988). Capture of free holes by charged acceptors in uniaxially deformed Ge. Fizika i Tekhnika Poluprovodnikov, 22(3), 540–543.
Abstract: Цель настоящей работы — исследование кинетики примесной фотопроводимости p-Ge при сильном одноосном сжатии в широком диапазоне изменения интенсивности примесного подсвета, создающего свободные дырки, и определение сечения каскадного захвата дырок на мелкие заряженные акцепторы в условиях преобладания электрон-фононного механизма потерь энергии.
|
|
Gershenzon, E. M., Orlov, L. A., & Ptitsina, N. G. (1975). Absorption spectra in electron transitions between excited states of impurities in germanium. JETP Lett., 22(4), 95–97.
|
|
Gershenzon, E. M., Gol'tsman, G., & Ptitsina, N. G. (1973). Energy spectrum of free excitons in germanium. JETP Lett., 18(3), 93.
|
|
Gershenson, E. M., Gol'tsman, G. N., Elant'ev, A. I., Kagane, M. L., Multanovskii, V. V., & Ptitsina, N. G. (1983). Use of submillimeter backward-wave tube spectroscopy in determination of the chemical nature and concentration of residual impurities in pure semiconductors. Sov. Phys. Semicond., 17(8), 908–913.
|
