| Author |
Title |
Year  |
Publication |
DOI |
| Gershenzon, E. M.; Gol'tsman, G. N.; Multanovskii, V. V.; Ptitsina, N. G. |
Cross section for binding of free carriers into excitons in germanium |
1981 |
JETP Lett. |
|
| Гершензон, Е. М.; Гершензон, М. Е.; Гольцман, Г. Н.; Семенов, А. Д.; Сергеев, А. В. |
Неселективное воздействие электромагнитного излучения на сверхпроводящую пленку в резистивном состоянии |
1982 |
Письма в ЖЭТФ |
|
| Гершензон, Е. М. |
Воздействие электромагнитного излучения на сверхпроводящую плёнку ниобия в резистивном состоянии |
1982 |
Тезисы докладов 22 Всесоюзной конференции по физике низких температур |
|
| Gershenzon, E. M.; Goltsman, G. N.; Multanovskii, V. V.; Ptitsina, N. G. |
Kinetics of submillimeter impurity and exciton photoconduction in Ge |
1982 |
Optics and Spectroscopy |
|
| Gershenzon, E. M.; Gershenzon, M. E.; Gol'tsman, G. N.; Semenov, A. D.; Sergeev, A. V. |
Nonselective effect of electromagnetic radiation on a superconducting film in the resistive state |
1982 |
JETP Lett. |
|
| Gershenzon, E. M.; Gol'tsman, G. N.; Multanovskii, V. V.; Ptitsina, N. G. |
Kinetics of electron and hole binding into excitons in germanium |
1983 |
Sov. Phys. JETP |
|
| Гершензон, Е. М.; Гольцман, Г. Н.; Елантьев, А. И.; Кагане, М. Л.; Мултановский, В. В.; Птицина, Н. Г. |
Применение субмиллиметровой ЛОВ спектроскопии для определения химической природы и концентрации примесей в чистых полупроводниках |
1983 |
Физика и техника полупроводников |
|
| Gershenzon, E. M.; Gol'tsman, G. N.; Semenov, A. D. |
Submillimeter backward wave tube spectrometer for measuring superconducting film transmission |
1983 |
Pribory i Tekhnika Eksperimenta |
|
| Gershenson, E. M.; Gol'tsman, G. N.; Elant'ev, A. I.; Kagane, M. L.; Multanovskii, V. V.; Ptitsina, N. G. |
Use of submillimeter backward-wave tube spectroscopy in determination of the chemical nature and concentration of residual impurities in pure semiconductors |
1983 |
Sov. Phys. Semicond. |
|
| Банная, В. Ф.; Веселова, Л. И.; Гершензон, Е. М. |
Об одном способе определения концентрации глубоких примесей в германии |
1983 |
Физика и техника полупроводников |
|
