Author  |
Title |
Year |
Publication |
Volume |
Pages |
| Zhang, W.; Miao, W.; Li, S. L.; Zhou, K. M.; Shi, S. C.; Gao, J. R.; Goltsman, G. N. |
Measurement of the spectral response of spiral-antenna coupled superconducting hot electron bolometers |
2013 |
IEEE Trans. Appl. Supercond. |
23 |
2300804-2300804 |
| Wild, W.; Kardashev, N. S.; Likhachev, S. F.; Babakin, N. G.; Arkhipov, V. Y.; Vinogradov, I. S.; Andreyanov, V. V.; Fedorchuk, S. D.; Myshonkova, N. V.; Alexsandrov, Y. A.; Novokov, I. D.; Goltsman, G. N.; Cherepaschuk, A. M.; Shustov, B. M.; Vystavkin, A. N.; Koshelets, V. P.; Vdovin, V.F.; de Graauw, T.; Helmich, F.; vd Tak, F.; Shipman, R.; Baryshev, A.; Gao, J. R.; Khosropanah, P.; Roelfsema, P.; Barthel, P.; Spaans, M.; Mendez, M.; Klapwijk, T.; Israel, F.; Hogerheijde, M.; vd Werf, P.; Cernicharo, J.; Martin-Pintado, J.; Planesas, P.; Gallego, J. D.; Beaudin, G.; Krieg, J. M.; Gerin, M.; Pagani, L.; Saraceno, P.; Di Giorgio, A. M.; Cerulli, R.; Orfei, R.; Spinoglio, L.; Piazzo, L.; Liseau, R.; Belitsky, V.; Cherednichenko, S.; Poglitsch, A.; Raab, W.; Guesten, R.; Klein, B.; Stutzki, J.; Honingh, N.; Benz, A.; Murphy, A.; Trappe, N.; Räisänen, A. |
Millimetron—a large Russian-European submillimeter space observatory |
2009 |
Exp. Astron. |
23 |
221-244 |
| Vorobyov, V. V.; Kazakov, A. Y.; Soshenko, V. V.; Korneev, A. A.; Shalaginov, M. Y.; Bolshedvorskii, S. V.; Sorokin, V. N.; Divochiy, A. V.; Vakhtomin, Y. B.; Smirnov, K. V.; Voronov, B. M.; Shalaev, V. M.; Akimov, A. V.; Goltsman, G. N. |
Superconducting detector for visible and near-infrared quantum emitters [Invited] |
2017 |
Opt. Mater. Express |
7 |
513-526 |
| Voevodin, E. I.; Gershenzon, E. M.; Goltsman, G. N.; Ptitsina, N. G.; Chulkova, G. M. |
Capture of free holes by charged acceptors in uniaxially deformed Ge |
1988 |
Fizika i Tekhnika Poluprovodnikov |
22 |
540-543 |
| Voevodin, E. I.; Gershenzon, E. M.; Goltsman, G. N.; Ptitsina, N. G. |
Energy-spectrum of shallow acceptors in Ge deformed strongly by a uniaxial pressure |
1989 |
Sov. Phys. and Technics of Semiconductors |
23 |
843-846 |
