| Author |
Title |
Year |
Publication |
Volume |
Pages |
| Manus, M. K. Mc; Kash, J. A.; Steen, S. E.; Polonsky, S.; Tsang, J.C.; Knebel, D. R.; Huott, W. |
PICA: Backside failure analysis of CMOS circuits using picosecond imaging circuit analysis |
2000 |
Microelectronics Reliability |
40 |
1353-1358 |
| Stellari, Franco; Song, Peilin |
Testing of ultra low voltage CMOS microprocessors using the superconducting single-photon detector (SSPD) |
2005 |
Proc. 12th IPFA |
|
2 |
| Driessen, E. F. C.; Braakman, F. R.; Reiger, E. M.; Dorenbos, S. N.; Zwiller, V.; de Dood, M. J. A. |
Impedance model for the polarization-dependent optical absorption of superconducting single-photon detectors |
2009 |
Eur. Phys. J. Appl. Phys. |
47 |
10701 |
| Тархов, Михаил Александрович |
Разработка сверхпроводниковых однофотонных детекторов с повышенной спектральной чувствительностью и быстродействием |
2016 |
М. НИЦ “Курчатовский институт” |
|
1-103 |
| Тархов, Михаил Александрович |
Разработка сверхпроводниковых однофотонных детекторов с повышенной спектральной чувствительностью и быстродействием. Автореферат |
2016 |
М. НИЦ “Курчатовский институт” |
|
1-30 |
