| Author |
Title |
Year  |
Publication |
Volume |
Pages |
| Bondarenko, O. I.; Gershenzon, E. M.; Gurvich, Y. A.; Orlova, S. L.; Ptitsina, N. G. |
Measurement of the width of the cyclotron resonance line of n-type Ge in quantizing magnetic fields |
1972 |
Presumably: Sov. Phys. Semicond. | Физика и техника полупроводников |
6 |
362-363 |
| Gershenzon, E. M.; Gurvich, Y. A.; Orlova, S. L.; Ptitsina, N. G. |
Scattering of electrons by charged impurities in Ge under cyclotron resonance conditions |
1976 |
Presumably: Sov. Phys. Semicond. | Физика и техника полупроводников |
10 |
1379-1383 |
| Гершензон, Е. М.; Гольцман, Г. Н.; Елантьев, А. И.; Кагане, М. Л.; Мултановский, В. В.; Птицина, Н. Г. |
Применение субмиллиметровой ЛОВ спектроскопии для определения химической природы и концентрации примесей в чистых полупроводниках |
1983 |
Физика и техника полупроводников |
17 |
1430-1437 |
| Банная, В. Ф.; Веселова, Л. И.; Гершензон, Е. М. |
Об одном способе определения концентрации глубоких примесей в германии |
1983 |
Физика и техника полупроводников |
17 |
1896-1898 |
| Гершензон, Е. М.; Литвак-Горская, Л. Б.; Рабинович, Р. И. |
Отрицательное магнитосопротивление в случае проводимости по верхней зоне Хаббарда |
1983 |
Физика и техника полупроводников |
17 |
1873-1876 |
