@Article{_etal1983,
author="Гершензон, Е М
and Гольцман, Г Н
and Елантьев, А И
and Кагане, М Л
and Мултановский, В В
and Птицина, Н Г",
title="Применение субмиллиметровой ЛОВ спектроскопии для определения химической природы и концентрации примесей в чистых полупроводниках",
journal="Физика и техника полупроводников",
year="1983",
volume="17",
number="8",
pages="1430--1437",
optkeywords="BWO spectroscopy; pure semiconductors; residual impurities",
optnote="Duplicated as 1714",
optnote="exported from refbase (https://db.rplab.ru/refbase/show.php?record=1712), last updated on Fri, 28 May 2021 23:15:02 -0500",
opturl="http://mi.mathnet.ru/phts2441",
language="Russian"
}