%0 Journal Article
%T Применение субмиллиметровой ЛОВ спектроскопии для определения химической природы и концентрации примесей в чистых полупроводниках
%A Гершензон, Е М
%A Гольцман, Г Н
%A Елантьев, А И
%A Кагане, М Л
%A Мултановский, В В
%A Птицина, Н Г
%J Физика и техника полупроводников
%D 1983
%V 17
%N 8
%G Russian
%F _etal1983
%O Duplicated as 1714
%O exported from refbase (https://db.rplab.ru/refbase/show.php?record=1712), last updated on Fri, 28 May 2021 23:15:02 -0500
%K BWO spectroscopy
%K pure semiconductors
%K residual impurities
%U http://mi.mathnet.ru/phts2441
%P 1430-1437