PT Journal
AU Гершензон, ��
   Гольцман, ��
   Елантьев, ��
   Кагане, ��
   Мултановский, ��
   Птицина, ��
TI Применение субмиллиметровой ЛОВ спектроскопии для определения химической природы и концентрации примесей в чистых полупроводниках
SO Физика и техника полупроводников
JI Физика и техника полупроводников
PY 1983
BP 1430
EP 1437
VL 17
IS 8
LA Russian
DE BWO spectroscopy; pure semiconductors; residual impurities
ER