%0 Journal Article
%T Use of submillimeter backward-wave tube spectroscopy in determination of the chemical nature and concentration of residual impurities in pure semiconductors
%A Gershenson, E. M.
%A Gol'tsman, G. N.
%A Elant'ev, A. I.
%A Kagane, M. L.
%A Multanovskii, V. V.
%A Ptitsina, N. G.
%J Sov. Phys. Semicond.
%D 1983
%V 17
%N 8
%F Gershenson_etal1983
%O Применение субмиллиметровой ЛОВ спектроскопии для определения химической природы и концентрации примесей в чистых полупроводниках
%O exported from refbase (https://db.rplab.ru/refbase/show.php?record=1714), last updated on Fri, 28 May 2021 23:11:04 -0500
%K BWO spectroscopy
%K pure semiconductors
%K residual impurities
%U https://scholar.google.com/scholar?cluster=10840583430299553394&hl=en&oi=scholarr
%P 908-913