TY  - JOUR
AU  - Gershenson, E. M.
AU  - Gol'tsman, G. N.
AU  - Elant'ev, A. I.
AU  - Kagane, M. L.
AU  - Multanovskii, V. V.
AU  - Ptitsina, N. G.
PY  - 1983
DA  - 1983//
TI  - Use of submillimeter backward-wave tube spectroscopy in determination of the chemical nature and concentration of residual impurities in pure semiconductors
T2  - Sov. Phys. Semicond.
JO  - Sov. Phys. Semicond.
SP  - 908
EP  - 913
VL  - 17
IS  - 8
KW  - BWO spectroscopy
KW  - pure semiconductors
KW  - residual impurities
UR  - https://scholar.google.com/scholar?cluster=10840583430299553394&hl=en&oi=scholarr
N1  - Применение субмиллиметровой ЛОВ спектроскопии для определения химической природы и концентрации примесей в чистых полупроводниках
ID  - Gershenson_etal1983
ER  -