%0 Journal Article
%T О механизме динамического сужения линии ЭПР доноров фосфора в кремнии
%A Гершензон, Е М
%A Семенов, И Т
%A Фогельсон, М С
%J Физика и техника полупроводников
%D 1984
%V 18
%N 3
%F _etal1984
%O exported from refbase (https://db.rplab.ru/refbase/show.php?record=1761), last updated on Mon, 31 May 2021 19:05:02 -0500
%X Температурная зависимость ширины линии ЭПР доноров Р в Si исследована в интервале концентрации ND=2.5⋅1017−9⋅1017см−3 и температур T=1.7−45 K на образцах с различной степенью компенсации основной примеси. Результаты согласуются с моделью обменного сужения линии при учете температурной зависимости обменного интеграла и тем самым исключают предлагавшийся ранее механизм сужения линии вследствие прыжкового движения электронов по примесным центрам.
%K Si
%K phosphorus donors
%K EPR
%U http://mi.mathnet.ru/phts1644
%P 421-425