TY  - JOUR
AU  - Гершензон, Е М
AU  - Семенов, И Т
AU  - Фогельсон, М С
PY  - 1984
DA  - 1984//
TI  - О механизме динамического сужения линии ЭПР доноров фосфора в кремнии
T2  - Физика и техника полупроводников
JO  - Физика и техника полупроводников
SP  - 421
EP  - 425
VL  - 18
IS  - 3
KW  - Si
KW  - phosphorus donors
KW  - EPR
AB  - Температурная зависимость ширины линии ЭПР доноров Р в Si исследована в интервале концентрации ND=2.5⋅1017−9⋅1017см−3 и температур T=1.7−45 K на образцах с различной степенью компенсации основной примеси. Результаты согласуются с моделью обменного сужения линии при учете температурной зависимости обменного интеграла и тем самым исключают предлагавшийся ранее механизм сужения линии вследствие прыжкового движения электронов по примесным центрам.
UR  - http://mi.mathnet.ru/phts1644
N1  - exported from refbase (https://db.rplab.ru/refbase/show.php?record=1761), last updated on Mon, 31 May 2021 19:05:02 -0500
ID  - _etal1984
ER  -