@Article{_etal1983,
author="Банная, В Ф
and Веселова, Л И
and Гершензон, Е М",
title="Об одном способе определения концентрации глубоких примесей в германии",
journal="Физика и техника полупроводников",
year="1983",
volume="17",
number="10",
pages="1896--1898",
optkeywords="Ge; deep impurities",
optnote="exported from refbase (https://db.rplab.ru/refbase/show.php?record=1762), last updated on Mon, 31 May 2021 19:16:55 -0500",
opturl="http://mi.mathnet.ru/phts2567"
}