%0 Journal Article
%T Об одном способе определения концентрации глубоких примесей в германии
%A Банная, В Ф
%A Веселова, Л И
%A Гершензон, Е М
%J Физика и техника полупроводников
%D 1983
%V 17
%N 10
%F _etal1983
%O exported from refbase (https://db.rplab.ru/refbase/show.php?record=1762), last updated on Mon, 31 May 2021 19:16:55 -0500
%K Ge
%K deep impurities
%U http://mi.mathnet.ru/phts2567
%P 1896-1898