PT Journal
AU Банная, ��
   Веселова, ��
   Гершензон, ��
TI Об одном способе определения концентрации глубоких примесей в германии
SO Физика и техника полупроводников
JI Физика и техника полупроводников
PY 1983
BP 1896
EP 1898
VL 17
IS 10
DE Ge; deep impurities
ER