| Home | << 1 >> |
|
Author  |
Title | Year | Publication | Volume | Pages |
|---|---|---|---|---|---|
| Hoevers, H. F. C.; Bento, A. C.; Bruijn, M. P.; Gottardi, L.; Korevaar, M. A. N.; Mels, W. A.; de Korte, P. A. J. | Thermal fluctuation noise in a voltage biased superconducting transition edge thermometer | 2000 | Applied Physics Letters | 77 | 4421-4424 |