Gershenzon, E. M., Gol'tsman, G. N., & Elant'ev, A. I. (1977). Energy spectrum of the donors in GaAs and Ge and its reaction to a magnetic field. Sov. Phys. JETP, 45(3), 555–565.
Abstract: The spectrum of the submillimeter photoconductivity of n-GaAs and n-Ge in a magnetic field up to 60 kOe at helium temperatures was investigated. A large number of lines due to transitions between excited states of the donors have been investigated, and the measurement results were used to determine a number of levels of the energy spectrum in a wide range of magnetic fields. For GaAs, these data are compared with calculations of the energy spectrum of the hydrogen atom in magnetic fields up to -2X lo9 Oe. For the donors in Ge, the energy spectrum is investigated at different orientations of the magnetic field relative to the crystallographic axes (H 11 [loo], [I 1 I], [110]), and these results are also compared with the corresponding calculations.
|
Gershenzon, E. M., Orlova, S. L., Orlov, L. A., Ptitsina, N. G., & Rabinovich, R. I. (1976). Intervalley cyclotron-impurity resonance of electrons in n-Ge. JETP Lett., 24(3), 125–128.
|
Gershenzon, E. M., Gol'tsman, G., & Ptitsina, N. G. (1973). Energy spectrum of free excitons in germanium. JETP Lett., 18(3), 93.
|
Гершензон, Е. М., Семенов, И. Т., & Фогельсон, М. С. (1984). О механизме динамического сужения линии ЭПР доноров фосфора в кремнии. Физика и техника полупроводников, 18(3), 421–425.
Abstract: Температурная зависимость ширины линии ЭПР доноров Р в Si исследована в интервале концентрации ND=2.5⋅1017−9⋅1017см−3 и температур T=1.7−45 K на образцах с различной степенью компенсации основной примеси. Результаты согласуются с моделью обменного сужения линии при учете температурной зависимости обменного интеграла и тем самым исключают предлагавшийся ранее механизм сужения линии вследствие прыжкового движения электронов по примесным центрам.
|
Гершензон, Е. М., Мельников, А. П., Рабинович, Р. И., & Смирнова, В. Б. (1983). О возможности создания инверсной функции распределения свободных носителей в полупроводниках при захвате на мелкие нейтральные примеси. Физика и техника полупроводников, 17(3), 499–501.
|