toggle visibility Search & Display Options

Select All    Deselect All
 |   | 
Details
   print
  Record Links
Author (up) Гершензон, Е. М.; Семенов, И. Т.; Фогельсон, М. С. url  openurl
  Title О механизме динамического сужения линии ЭПР доноров фосфора в кремнии Type Journal Article
  Year 1984 Publication Физика и техника полупроводников Abbreviated Journal Физика и техника полупроводников  
  Volume 18 Issue 3 Pages 421-425  
  Keywords Si, phosphorus donors, EPR  
  Abstract Температурная зависимость ширины линии ЭПР доноров Р в Si исследована в интервале концентрации ND=2.5⋅1017−9⋅1017см−3 и температур T=1.7−45 K на образцах с различной степенью компенсации основной примеси. Результаты согласуются с моделью обменного сужения линии при учете температурной зависимости обменного интеграла и тем самым исключают предлагавшийся ранее механизм сужения линии вследствие прыжкового движения электронов по примесным центрам.  
  Address  
  Corporate Author Thesis  
  Publisher Place of Publication Editor  
  Language Summary Language Original Title  
  Series Editor Series Title Abbreviated Series Title  
  Series Volume Series Issue Edition  
  ISSN ISBN Medium  
  Area Expedition Conference  
  Notes Approved no  
  Call Number Serial 1761  
Permanent link to this record
Select All    Deselect All
 |   | 
Details
   print

Save Citations:
Export Records: