Gershenzon, E. M., Gershenson, M. E., Goltsman, G. N., Lyulkin, A. M., Semenov, A. D., & Sergeev, A. V. (1989). Limiting characteristics of fast-response superconducting bolometers. Zhurnal Tekhnicheskoi Fiziki, 59(2), 11–120.
Abstract: Теоретически и экспериментально исследовано физическое ограничение быстродействия сверхпроводящего болометра. Показано, что минимальная постоянная времени реализуется в условиях электронного разогрева и определяется процессом неупругого электрон-фонон-ного взаимодействия. Сформулированы требования к конструкции «электронного болометра» для достижения предельной чувствительности. Проведено сравнение характеристик электронного болометра и обычных болометров различных типов.
|
|
Aksaev, E. E., Gershenzon, E. M., Gershenson, M. E., Goltsman, G. N., Semenov, A. D., & Sergeev, A. V. (1989). Prospects for using high-temperature superconductors to create electron bolometers. Pisma v Zhurnal Tekhnicheskoi Fiziki, 15(14), 88–93.
|
|
Elant'ev, A. I., & Karasik, B. S. (1989). Effect of high-frequency current on Nb superconductive film in resistive state. Sov. J. Low Temp. Phys., 15(7), 379–383.
|
Gershenzon, E. M., Gershenson, M. E., Goltsman, G. N., Karasik, B. S., Lyulkin, A. M., & Semenov, A. D. (1989). Fast-response superconducting electron bolometer. Pisma v Zhurnal Tekhnicheskoi Fiziki, 15(3), 88–92.
Abstract: The general design, operation, and performance characteristics of fast-response electronic bolometers using a thin superconducting Nb film on a leucosapphire substrate are briefly reviewed. The volt-watt sensitivity of the bolometrs is 2,000-200,000 V/W, the operating temperature is 1.6 K, and the time constant is 4-4.5 ns.
|
Банная, В. Ф., Веселова, Л. И., & Гершензон, Е. М. (1989). Особенности температурной зависимости холловской подвижности в легированных и некомпенсированных полупроводниках. Физика и техника полупроводников, 23(2), 338–345.
Abstract: На примере легированного и слабо компенсированного Si⟨B⟩ проведены исследования особенностей температурной зависимости подвижности при различных механизмах рассеяния. Уточнен метод определения концентрации компенсирующей примеси по μI(T). Полученные результаты обсуждаются и для Ge.
|
