|
Records |
Links ![sorted by URL field, ascending order (up)](img/sort_asc.gif) |
|
Author |
Tretyakov, I.; Shurakov, A.; Perepelitsa, A.; Kaurova, N.; Svyatodukh, S.; Zilberley, T.; Ryabchun, S.; Smirnov, M.; Ovchinnikov, O.; Goltsman, G. |
![find book details (via ISBN) isbn](img/isbn.gif)
|
|
Title |
Silicon room temperature IR detectors coated with Ag2S quantum dots |
Type |
Conference Article |
|
Year |
2019 |
Publication |
Proc. IWQO |
Abbreviated Journal |
Proc. IWQO |
|
|
Volume |
|
Issue |
|
Pages |
369-371 |
|
|
Keywords |
silicon detector, quantum dot, IR, surface states |
|
|
Abstract |
For decades silicon has been the chief technological semiconducting material of modern microelectronics. Application of silicon detectors in optoelectronic devices are limited to the visible and near infrared ranges, due to their transparency for radiation with a wavelength higher than 1.1 μm. The expansion Si absorption towards longer wave lengths is a considerable interest to optoelectronic applications. In this work we present an elegant and effective solution to this problem using Ag2S quantum dots, creating impurity states in Si to cause sub-band gap photon absorption. The sensitivity of room temperature zero-bias Si_Ag2S detectors, which we obtained is 1011 cmHzW . Given the variety of QDs parameters such as: material, dimensions, our results open a path towards the future study and development of Si detectors for technological applications. |
|
|
Address |
|
|
|
Corporate Author |
|
Thesis |
|
|
|
Publisher |
|
Place of Publication |
|
Editor |
|
|
|
Language |
|
Summary Language |
|
Original Title |
|
|
|
Series Editor |
|
Series Title |
|
Abbreviated Series Title |
|
|
|
Series Volume |
|
Series Issue |
|
Edition |
|
|
|
ISSN |
|
ISBN |
978-5-89513-451-1 |
Medium |
|
|
|
Area |
|
Expedition |
|
Conference |
|
|
|
Notes |
|
Approved |
no |
|
|
Call Number |
|
Serial |
1154 |
|
Permanent link to this record |
|
|
|
|
Author |
Проходцов, А. И.; Голиков, А. Д.; Ан, П. П.; Ковалюк, В. В.; Гольцман, Г. Н. |
![find record details (via OpenURL) openurl](img/xref.gif)
|
|
Title |
Влияние покрытия из оксида кремния на эффективность фокусирующего решеточного элемента связи из нитрида кремния |
Type |
Conference Article |
|
Year |
2019 |
Publication |
Proc. IWQO |
Abbreviated Journal |
Proc. IWQO |
|
|
Volume |
|
Issue |
|
Pages |
201-203 |
|
|
Keywords |
integrated optics, silicon nitride, focusing grating coupler |
|
|
Abstract |
В работе экспериментально изучена зависимость эффективности фокусирующего решеточного элемента связи от периода и фактора заполнения до и после напыления верхнего слоя из оксида кремния. Полученные данные имеют практическое значение при создании перестраиваемых интегрально-оптических устройств на нитриде кремния. |
|
|
Address |
|
|
|
Corporate Author |
|
Thesis |
|
|
|
Publisher |
|
Place of Publication |
|
Editor |
|
|
|
Language |
Russian |
Summary Language |
|
Original Title |
|
|
|
Series Editor |
|
Series Title |
|
Abbreviated Series Title |
|
|
|
Series Volume |
|
Series Issue |
|
Edition |
|
|
|
ISSN |
|
ISBN |
|
Medium |
|
|
|
Area |
|
Expedition |
|
Conference |
|
|
|
Notes |
Duplicated as 1188 |
Approved |
no |
|
|
Call Number |
|
Serial |
1282 |
|
Permanent link to this record |
|
|
|
|
Author |
Елезов, М. С.; Щербатенко, М. Л.; Сыч, Д. В.; Гольцман, Г. Н. |
![find record details (via OpenURL) openurl](img/xref.gif)
|
|
Title |
Практические особенности работы оптоволоконного квантового приемника Кеннеди |
Type |
Conference Article |
|
Year |
2019 |
Publication |
Proc. IWQO |
Abbreviated Journal |
Proc. IWQO |
|
|
Volume |
|
Issue |
|
Pages |
303-305 |
|
|
Keywords |
Kennedy quantum receiver, fiber, quantum optics, standard quantum limit, superconducting nanowire single-photon detector, coherent detection |
|
|
Abstract |
Мы рассматриваем практические особенности работы квантового приемника на основе схемы Кеннеди, собранного из стандартных оптоволоконных элементов и сверхпроводникового детектора одиночных фотонов. Приемник разработан для различения двух фазовомодулированных когерентных состояний света на длине волны 1,5 микрона в непрерывном режиме с частотой модуляции 200 КГц и уровнем ошибок различения примерно в два раза ниже стандартного квантового предела. |
|
|
Address |
|
|
|
Corporate Author |
|
Thesis |
|
|
|
Publisher |
|
Place of Publication |
|
Editor |
|
|
|
Language |
Russian |
Summary Language |
|
Original Title |
|
|
|
Series Editor |
|
Series Title |
|
Abbreviated Series Title |
|
|
|
Series Volume |
|
Series Issue |
|
Edition |
|
|
|
ISSN |
|
ISBN |
|
Medium |
|
|
|
Area |
|
Expedition |
|
Conference |
|
|
|
Notes |
Duplicated as 1288 |
Approved |
no |
|
|
Call Number |
|
Serial |
1283 |
|
Permanent link to this record |
|
|
|
|
Author |
Елманов, И. А.; Елманова, А. В.; Голиков, А. Д.; Комракова, С. А.; Каурова, Н. С.; Ковалюк, В. В.; Гольцман, Г. Н. |
![find record details (via OpenURL) openurl](img/xref.gif)
|
|
Title |
Способ определения параметров резистов для электронной литографии фотонных интегральных схем на платформе нитрида кремния |
Type |
Conference Article |
|
Year |
2019 |
Publication |
Proc. IWQO |
Abbreviated Journal |
Proc. IWQO |
|
|
Volume |
|
Issue |
|
Pages |
306-308 |
|
|
Keywords |
Si3N4, e-beam lithography, EBL |
|
|
Abstract |
В работе были измерены толщины резистов ZEP 520A и ma-N 2400 для электронно-лучевой литографии, неразрушающим способом, а также подобран рецепт, обеспечивающий высокое отношение скорости травления нитрида кремния по сравнению с резистом. Работа имеет практическое значение для электронной литографии интегрально-оптических устройств и устройств нанофотоники на основе нитрида кремния. |
|
|
Address |
|
|
|
Corporate Author |
|
Thesis |
|
|
|
Publisher |
|
Place of Publication |
|
Editor |
|
|
|
Language |
|
Summary Language |
|
Original Title |
|
|
|
Series Editor |
|
Series Title |
|
Abbreviated Series Title |
|
|
|
Series Volume |
|
Series Issue |
|
Edition |
|
|
|
ISSN |
|
ISBN |
|
Medium |
|
|
|
Area |
|
Expedition |
|
Conference |
|
|
|
Notes |
Duplicated as 1189 |
Approved |
no |
|
|
Call Number |
|
Serial |
1284 |
|
Permanent link to this record |
|
|
|
|
Author |
Елманова, А.; Елманов, И.; Комракова, С.; Голиков, А.; Джавадзадэ, Д.; Воробьёв, В.; Большедворский, С.; Сошенко, В.; Акимов, А.; Ковалюк, В.; Гольцман, Г. |
![find record details (via OpenURL) openurl](img/xref.gif)
|
|
Title |
Способ интеграции наноалмазов с нанофотонными устройствами из нитрида кремния |
Type |
Conference Article |
|
Year |
2019 |
Publication |
Proc. IWQO |
Abbreviated Journal |
Proc. IWQO |
|
|
Volume |
|
Issue |
|
Pages |
309-311 |
|
|
Keywords |
nanodiamonds, NV-centers |
|
|
Abstract |
В работе были разработаны оптические структуры из нитрида кремния для дальнейшего размещения на них наноалмазов с NV-центрами, опробованы различные методики нанесения раствора наноалмазов и выбрана оптимальная. Работа имеет практическое значение в области нанофотоники и создании квантово-оптических устройств с однофотонными источниками. |
|
|
Address |
|
|
|
Corporate Author |
|
Thesis |
|
|
|
Publisher |
|
Place of Publication |
|
Editor |
|
|
|
Language |
|
Summary Language |
|
Original Title |
|
|
|
Series Editor |
|
Series Title |
|
Abbreviated Series Title |
|
|
|
Series Volume |
|
Series Issue |
|
Edition |
|
|
|
ISSN |
|
ISBN |
|
Medium |
|
|
|
Area |
|
Expedition |
|
Conference |
|
|
|
Notes |
Duplicated as 1190 |
Approved |
no |
|
|
Call Number |
|
Serial |
1285 |
|
Permanent link to this record |