|
Гершензон, Е. М., Семенов, И. Т., & Фогельсон, М. С. (1984). О механизме динамического сужения линии ЭПР доноров фосфора в кремнии. Физика и техника полупроводников, 18(3), 421–425.
Abstract: Температурная зависимость ширины линии ЭПР доноров Р в Si исследована в интервале концентрации ND=2.5⋅1017−9⋅1017см−3 и температур T=1.7−45 K на образцах с различной степенью компенсации основной примеси. Результаты согласуются с моделью обменного сужения линии при учете температурной зависимости обменного интеграла и тем самым исключают предлагавшийся ранее механизм сужения линии вследствие прыжкового движения электронов по примесным центрам.
|
|
|
Гершензон, Е. М., Семенов, И. Т., & Фогельсон, М. С. (1985). Спин-решеточная релаксация доноров фосфора в кремнии при одноосной деформации образца. Физика и техника полупроводников, 19(9), 1696–1698.
|
|
|
Gershenzon, E. M., Gol'tsman, G. N., Ptitsina, N. G., & Riger, E. R. (1986). Effect of electron-electron collisions on the trapping of free carriers by shallow impurity centers in germanium. Sov. Phys. JETP, 64(4), 889–897.
Abstract: Cascade Auger recombination of free carriers on shallow impurities in Ge is investigated under quasi-equilibrium conditions (T= 2-12 K) and in impurity breakdown. The Auger capture cross sections are found to be a,= 5. 10-l9 T-'n cm2 for donors and uip= 7- T-5p cm2 for acceptors. It is shown that in an isotropic semiconductor (p-Ge) ui is well described by the cascade-capture theory that takes into account only electron-electron collisions. In an anisotropic semiconductor ui is considerably larger (n-Ge, strongly uniaxially compressedp-Ge). Under impurity breakdown conditions the electron-electron collisions determine the lifetimes of the free carriers only in samples with appreciable density of the compensating impurity (Nk loi3 cmP3).
|
|
|
Гершензон, Е. М., Литвак-Горская, Л. Б., Луговая, Г. Я., & Шапиро, Е. З. (1986). Об интерпретации отрицательного магнитосопротивления в случае проводимости по верхней зоне Хаббарда в n-Ge⟨Sb⟩. Физика и техника полупроводников, 20(1), 99–103.
Abstract: В рамках теории квантовых поправок к проводимости объяснено отрицательное магнитосопротивление в n-Ge с концентрацией доноров Nd≃2.8⋅1016÷1.1⋅1017см−3, наблюдаемое в диапазоне температур 4.2−10 K, когда основной вклад в проводимость дают электроны верхней зоны Хаббарда. Показано, что время релаксации фазы волновой функции τφ определяется временем электрон-фононного взаимодействия τeph.
|
|
|
Gershenzon, E. M., Gol'tsman, G. N., & Mirskii, G. I. (1987). Submillimeter backward-wave-tube spectrometer-relaxometer. Pribory i Tekhnika Eksperimenta, 30(4), 131–137.
Abstract: A backward-wave-tube (BWT) spectrometer-relaxometer is described that is designed for study of the relaxation characteristics of photoconductors in the wavelength range of 2-0.25 mm – in particular, to measure the relaxation times of the submillimeter photoconductivity of germanium in the range of 10[sup:-4]-10[sup:-9] sec and to determine from these data the concentration of compensating impurities of from 10[sup:10] to 10[sup:14] cm[sup:-3]. The instrument uses the beats of the oscillations of two BWTs and records the amplitude-frequency response of the specimen with variation of the beat frequency from 10[sup:4] to 10[sup:8] Hz with accumulation of the desired signal for less than or equal to1 sec by means of a quadrature synchronous detector. The beat frequency is stabilized and the quadrature voltages of the synchronous detector are formed by means of phase-locked loops.
|
|