toggle visibility Search & Display Options

Select All    Deselect All
 | 
Citations
 | 
Масленников СН, Вахтомин ЮБ, Антипов СВ, Смирнов КВ, Каурова НС, Гришина ЕВ, et al. Смесители на основе электронного разогрева в тонких пленках NbN для частот 2.5 и 3.8 ТГц. In: Десятая всероссийская научная конференция студентов-физиков и молодых ученых (ВНКСФ-10). Москва; 2004.
toggle visibility
Каурова НС, Финкель МИ, Масленников СН, Вахтомин ЮБ, Антипов СВ, Смирнов КВ, et al. Смеситель субмиллиметрового диапазона длин волн на основе тонкой пленки YBa2Cu3O7-x. In: 1-я международная конференция Фундаментальные проблемы высокотемпературной сверхпроводимости. Москва-Звенигород; 2004. 291.
toggle visibility
Гольцман ГН, Разумовская ИВ, Окунев ОВ, Чулкова ГМ, Корнеев АА, Финкель МИ, et al. Сборник программ учебных дисциплин профессионального цикла подготовки магистров и бакалавров по направлению «Физика». Прометей. 2011:67.
toggle visibility
Гершензон ЕМ, Гольцман ГН, Елантьев АИ, Карасик БС, Потоскуев СЭ. Разогрев электронов в резистивном состоянии сверхпроводника электромагнитным излучением значительной интенсивности. Физика низких температур. 1988;14(7):753–63.
toggle visibility
Гольцман ГН, Птицина НГ, Ригер ЕР. Оже-рекомбинация свободных носителей на мелких донорах в германии. Физика и техника полупроводников. 1984;18(9):1684–6.
toggle visibility
Манова НН, Корнеева ЮП, Корнеев АА Гольцман Г. Н. Cверхпроводящий однофотонный детектор, интегрированный с оптическим резонатором. In: Науч. сессия НИЯУ МИФИ.; 2010. p. 92–3.
toggle visibility
Елезов МС, Корнеев АА, Дивочий АВ, Гольцман ГН. Сверхпроводящие однофотонные детекторы с разрешением числа фотонов. In: Науч. сессия МИФИ.; 2009. p. 47–58.
toggle visibility
Елезов МС, Тархов МА, Дивочий АВ, Вахтомин ЮБ, Гольцман ГН. Система регистрации одиночных фотонов в видимом и ближнем инфракрасном диапазонах. In: Науч. сессия НИЯУ МИФИ.; 2010. p. 94–5.
toggle visibility
Гершензон ЕМ, Гольцман ГН, Елантьев АИ, Кагане МЛ, Мултановский ВВ, Птицина НГ. Применение субмиллиметровой ЛОВ спектроскопии для определения химической природы и концентрации примесей в чистых полупроводниках. Физика и техника полупроводников. 1983;17(8):1430–7.
toggle visibility
Select All    Deselect All
 | 
Citations
 |