toggle visibility Search & Display Options

Select All    Deselect All
 | 
Citations
 | 
Gershenzon EM, Gol'tsman GN, Ptitsyna NG. Carrier lifetime in excited states of shallow impurities in germanium. JETP Lett. 1977;25(12):539–43.
toggle visibility
Gershenzon EM, Gershenzon ME, Gol'tsman GN, Semenov AD, Sergeev AV. Nonselective effect of electromagnetic radiation on a superconducting film in the resistive state. JETP Lett. 1982;36(7):296–9.
toggle visibility
Gershenzon EM, Gershenzon ME, Gol'tsman GN, Karasik BS, Semenov AD, Sergeev AV. Light-induced heating of electrons and the time of the inelastic electron-phonon scattering in the YBaCuO compound. JETP Lett. 1987;46(6):285–7.
toggle visibility
Gershenzon EM, Gol'tsman GN, Karasik BS, Semenov AD. Measurement of the energy gap in the compound YBaCu3O9-δ on the basis of the IR absorption spectrum. JETP Lett. 1987;46(5):237–8.
toggle visibility
Verevkin AI, Ptitsina NG, Chulkova GM, Gol'tsman GN, Gershenzon EM, Yngvesson KS. Electron energy relaxation in a 2D channel in AlGaAs-GaAs heterostructures under quasiequilibrium conditions at low temperatures. JETP Lett. 1995;61(7):591–5.
toggle visibility
Aksaev EE, Gershenzon EM, Gol'tsman GN, Semenov AD, Sergeev AV. Interaction of electrons with thermal phonons in YBa2Cu3O7-δ films at low temperatures. JETP Lett. 1989;50(5):283–6.
toggle visibility
Tretyakov I, Shurakov A, Perepelitsa A, Kaurova N, Svyatodukh S, Zilberley T, et al. Silicon room temperature IR detectors coated with Ag2S quantum dots. In: Proc. IWQO.; 2019. p. 369–71.
toggle visibility
Проходцов АИ, Голиков АД, Ан ПП, Ковалюк ВВ, Гольцман ГН. Влияние покрытия из оксида кремния на эффективность фокусирующего решеточного элемента связи из нитрида кремния. In: Proc. IWQO.; 2019. p. 201–3.
toggle visibility
Елезов МС, Щербатенко МЛ, Сыч ДВ, Гольцман ГН. Практические особенности работы оптоволоконного квантового приемника Кеннеди. In: Proc. IWQO.; 2019. p. 303–5.
toggle visibility
Елманов ИА, Елманова АВ, Голиков АД, Комракова СА, Каурова НС, Ковалюк ВВ, et al. Способ определения параметров резистов для электронной литографии фотонных интегральных схем на платформе нитрида кремния. In: Proc. IWQO.; 2019. p. 306–8.
toggle visibility
Select All    Deselect All
 | 
Citations
 |