Home
<<
1
>>
List View
|
Citations
|
Details
Банная ВФ, Веселова ЛИ, Гершензон ЕМ. Об одном способе определения концентрации глубоких примесей в германии. Физика и техника полупроводников. 1983;17(10):1896–8.
Keywords:
Ge, deep impurities
https://db.rplab.ru/refbase/show.php?record=1762