| Home | << 1 >> |
|
| Record | |||||
|---|---|---|---|---|---|
Author  |
Гершензон, Е. М.; Семенов, И. Т.; Фогельсон, М. С. | ||||
| Title | О механизме динамического сужения линии ЭПР доноров фосфора в кремнии | Type | Journal Article | ||
| Year | 1984 | Publication | Физика и техника полупроводников | Abbreviated Journal | Физика и техника полупроводников |
| Volume | 18 | Issue | 3 | Pages | 421-425 |
| Keywords | Si, phosphorus donors, EPR | ||||
| Abstract | Температурная зависимость ширины линии ЭПР доноров Р в Si исследована в интервале концентрации ND=2.5⋅1017−9⋅1017см−3 и температур T=1.7−45 K на образцах с различной степенью компенсации основной примеси. Результаты согласуются с моделью обменного сужения линии при учете температурной зависимости обменного интеграла и тем самым исключают предлагавшийся ранее механизм сужения линии вследствие прыжкового движения электронов по примесным центрам. | ||||
| Address | |||||
| Corporate Author | Thesis | ||||
| Publisher | Place of Publication | Editor | |||
| Language | Summary Language | Original Title | |||
| Series Editor | Series Title | Abbreviated Series Title | |||
| Series Volume | Series Issue | Edition | |||
| ISSN | ISBN | Medium | |||
| Area | Expedition | Conference | |||
| Notes | Approved | no | |||
| Call Number | Serial | 1761 | |||
| Permanent link to this record | |||||