|
Author |
Title |
Year |
Publication |
DOI ![sorted by DOI field, ascending order (up)](img/sort_asc.gif) |
Links |
|
Gershenzon, E. M.; Gol'tsman, G. N.; Ptitsina, N. G. |
Observation of the free-exciton spectrum at submillimeter wavelengths |
1972 |
JETP Lett. |
|
|
|
Гершензон, Е. М.; Гольцман, Г. Н.; Елантьев, А. И.; Кагане, М. Л.; Мултановский, В. В.; Птицина, Н. Г. |
Применение субмиллиметровой ЛОВ спектроскопии для определения химической природы и концентрации примесей в чистых полупроводниках |
1983 |
Физика и техника полупроводников |
|
|
|
Gershenzon, E. M.; Gol'tsman, G. N.; Semenov, A. D. |
Submillimeter backward wave tube spectrometer for measuring superconducting film transmission |
1983 |
Pribory i Tekhnika Eksperimenta |
|
|
|
Gershenson, E. M.; Gol'tsman, G. N.; Elant'ev, A. I.; Kagane, M. L.; Multanovskii, V. V.; Ptitsina, N. G. |
Use of submillimeter backward-wave tube spectroscopy in determination of the chemical nature and concentration of residual impurities in pure semiconductors |
1983 |
Sov. Phys. Semicond. |
|
|
|
Gershenzon, E. M.; Goltsman, G. N.; Multanovskii, V. V.; Ptitsina, N. G. |
Kinetics of submillimeter impurity and exciton photoconduction in Ge |
1982 |
Optics and Spectroscopy |
|
|